Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

1

Metoda oceny niezawodności sieci oparta na aplikacjach i strukturze topologicznej

100%

Huang N. , Hou D. , Chen Y. , Kang R.

|

tom nr 3

77-83

PL

Aplikacje odgrywają ważną rolę w ocenie niezawodności sieci komunikacyjnych. Innymi słowy, niezawodność sieci może być całkowicie różna dla różnych aplikacji tej samej sieci. Niestety, istniejące metody oceny niezawodności, w większości oparte na teorii grafów, poświęcają niewiele lub nie poświęcają wcale uwagi aplikacjom. W niniejszym artykule przedstawiono koncepcję niezawodności aplikacji sieciowych oraz opartą na modelu Markowa metodę analizy proponowanej miary niezawodności aplikacji sieciowych. Ponadto, na podstawie niezawodności poszczególnych aplikacji, zaproponowano metodę oceny ogólnej niezawodności sieci, która łączy efekty różnych aplikacji działających w danej sieci. Zaproponowaną koncepcję i metody omówiono na podstawie studium przypadku oraz badań eksperymentalnych.

EN

Applications play an important role in the reliability evaluation of communication networks. In other words, the reliability of a network can be totally different when different applications are considered for the same network. However existing reliability evaluation methods, which are mostly based on the graph theory, give no or little consideration to applications. This paper proposes a concept of network application reliability and a Markov-based method for analyzing the proposed network application reliability measure. Furthermore, based on the reliability of each individual application, a method is proposed to evaluate the overall network reliability that incorporates effects of different applications running on the network. Both a case study and experiments are performed to illustrate the proposed concept and methods.

2

Praktyczne podejście do oceny niezawodności aplikacji sieciowych

88%

Li R. , Kang R. , Huang N. , Chen W. , Chen Y.

|

tom nr 4

17-27

PL

Wiele różnych aplikacji może być obsługiwanych przez tę samą sieć. Wymagania użytkowników i kryteria uszkodzeń mogą być odmienne dla różnych aplikacji. Ocena sieci winna być przeprowadzana z punktu widzenia aplikacji. W niniejszym artykule, zaproponowano metodologię oceny niezawodności aplikacji sieciowych opartą na indeksach warstwowych (layered indices). Pierwszym krokiem w omawianej metodzie jest osobne obliczenie niezawodności poszczególnych aplikacji w sieci. Następnie ocenia się niezawodność sieci biorąc pod uwagę związki pomiędzy różnymi aplikacjami. Jako swój wkład niniejszy artykuł (1) przedstawia naukową i praktyczną metodę oceny niezawodności aplikacji sieciowych; (2) tworzy hierarchiczną strukturę do oceny niezawodności aplikacji sieciowych; (3) proponuje i analizuje cztery kluczowe technologie-doboru komponentów, upraszczania sieci, modelowania profilu aplikacji oraz oceny niezawodności aplikacji; (44) ilustruje proponowany proces oceny na przykładzie sieci komputerowej.

EN

Many different applications may be handled by the same network. For different applications, the user requirements and failure criterions may be different. The network reliability assessment needs to be conducted from the "application" point of view. In this paper, a methodology for network application reliability assessment based on layered indices is proposed. Firstly, the individual application reliability is calculated for each application on the network. Then the network reliability is evaluated considering the relationships among different applications. The contributions of this paper are: (1) a scientific and practical network application reliability assessment method is proposed based on network applications; (2) a hierarchical structure for network application reliability assessment is constructed; (3) four key technologies, component selection, network simplification, application profile modeling, and application reliability assessment, are proposed and analyzed; (44) a computer network is used to illustrate the proposed assessment process.

3

Analysis Of Factors Affecting Gravity-Induced Deflection For Large And Thin Wafers In Flatness Measurement Using Three-Point-Support Method

88%

Liu H. , Dong Z. , Kang R. , Zhou P. , Gao S.

|

2015

|

tom Vol. 22, nr 4

531--546

EN

Accurate flatness measurement of silicon wafers is affected greatly by the gravity-induced deflection (GID) of the wafers, especially for large and thin wafers. The three-point-support method is a preferred method for the measurement, in which the GID uniquely determined by the positions of the supports could be calculated and subtracted. The accurate calculation of GID is affected by the initial stress of the wafer and the positioning errors of the supports. In this paper, a finite element model (FEM) including the effect of initial stress was developed to calculate GID. The influence of the initial stress of the wafer on GID calculation was investigated and verified by experiment. A systematic study of the effects of positioning errors of the support ball and the wafer on GID calculation was conducted. The results showed that the effect of the initial stress could not be neglected for ground wafers. The wafer positioning error and the circumferential error of the support were the most influential factors while the effect of the vertical positioning error was negligible in GID calculation.