PL
 |
EN
Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 7

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Zastosowanie układów MEMS w pomiarach położenia oraz parametrów ruchu liniowego
100%
Błąd G. , Szlachta A.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2011
|
tom R. 57, nr 12
1558-1560
PL
W artykule zostało przedstawione opracowanie systemu do pomiaru położenia oraz wyznaczenia parametrów ruchu liniowego poruszających się obiektów z wykorzystaniem czujnika MEMS. System w konfiguracji INS (ang. Inertial Navigation System), jest systemem nawigacji bezwładnościowej, wykorzystuje czujniki, takie jak akcelerometry, żyroskopy i inklinometry do obliczania prędkości, drogi i położenia poruszającego się obiektu. Układ składa się z części sprzętowej dotyczącej m.in. komunikacji mikrokontrolera z czujnikiem przyśpieszenia oraz komputerem, a także interfejsu użytkownika opracowanego w środowisku LabVIEW, który posłużył do prezentacji i obróbki wyników pomiarów.
EN
The elaborated system for measurement of position and linear motion parameters using MEMS sensor has been presented in this paper. The idea of measuring system has been described in chapter 2. Such system consists of hardware and calculation unit part. Data from sensor ADXL345 (Fig. 3) are transmitted to PC computer using Atmega32 microcontroller. The graphic user interface has been made in LabVIEW environment. It allows to present data and their handling. The practical application was presented in chapter 3 (Fig. 4). The example results of investigations have been shown and discussed in another part of work (Fig. 5). The designed and practically made measuring system has possibility of expanding with another sensors up to full INS system (Inertial Navigation System). It only requires software modification (without hardware inter-ference).
2
Modelowanie pól temperatury w grubowarstwowych strukturach sensorowych
100%
Błąd G. , Klepacki D.
|
2002
|
tom nr 7-8
39-42
3
Content available Zakres spektralny kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice
100%
Błąd G. , Wałach T.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2009
|
tom R. 55, nr 11
878-881
PL
Omówiono główne czynniki wpływające na wybór zakresu spektralnego kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice: parametry katalogowe kamer, przebiegi krzywych kalibracyjnych oraz własności promienne mikroukładów. Dla oceny kamer opracowano procedurę i obliczono niepewność standardową pomiaru emisyjności i temperatury. Zwykle mniejszą niepewność oferują kamery średniofalowe, lecz inne czynniki mogą zdecydować o wyborze kamery długofalowej.
EN
In microelectronics the accuracy of infrared thermography very often depends strongly on the IR camera spectral range. Cameras with different spectral ranges are usually compared using the uncertainty of temperature measurements. There are several works devoted to calculating this uncertainty. Unfortunately, in these works the uncertainty of emissivity measurements is arbitrarily determined, which makes it difficult to evaluate generally the accuracy of cameras. In the paper procedures for calculation of the relative combined standard uncertainties of emissivity and temperature measurements are proposed. Thanks to knowledge of the definition of some camera parameters it was possible to estimate well the uncertainty components coming from the camera by using statistical relationships and to achieve a high reliability of calculations. The calculation results allow one both to evaluate generally the uncertainties for IR cameras with various spectral ranges and to determine the conditions of obtaining low values of these uncertainties. The camera calibration curve shape influences not only the uncertainty but also the result of averaging temperatures in the camera ground instantaneous field-of-view. The dependence of this result on the spectral range is analysed in the work. In microelectronics the radiative properties of the components may often have the main influence on the choice of camera. Some of these properties and their impact on measurements are also discussed.
4
Content available System do wyznaczania charakterystyki kierunkowości przetworników elektroakustycznych
100%
Błąd G. , Szlachta A.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2008
|
tom R. 54, nr 12
874-876
PL
W artykule zostało przedstawione opracowanie systemu do pomiaru charakterystyki kierunkowości przetworników elektroakustycznych z wykorzystaniem nowoczesnych metod - mikrokontrolera, oprogramowania, wysokiej klasy urządzeń przetwarzania sygnałów akustycznych. Część praktyczną stanowią: koncepcja oraz realizacja praktyczna stanowiska do pomiaru charakterystyki kierunkowości głośników i mikrofonów. Stanowisko to stanowi system elektroniczny wraz z oprogramowaniem sterującym (środowisko LabView) stolikiem obrotowym oraz całym procesem pomiarowym wraz z wizualizacją wyników.
EN
The idea and practical realisation of a measuring system for directional response pattern determination of electro-acoustic converters are presented in this paper. Such a laboratory stand was realised using the modern methods, that is a microcontroller, software as well as signal converters of high class. It consists of a specially elaborated electronic system with software (made in LabView environment) that controls a rotary table and the whole measuring process (including data visualisation).
5
Determination of the course change of the supercapacitor equivalent model basic parameters
80%
Pilecki M. , Błąd G. , Potencki J. , Tomaszewski G.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2015
|
tom Vol. 56, nr 3
56-58
EN
The description of comparative study realization of commercially available supercapacitors, which belong to the same series, has been presented in this paper. The fundamental parameters of a simple equivalent model have been pointed out and the dispersion of all family parameters has been defined. The theoretical principles of used method, the construction of test bench and methodology of carrying out measurements have also been presented. The theoretical considerations have been illustrated by measurement and simulation results.
PL
W pracy zawarty został opis przebiegu realizacji badań porównawczych grupy 12 komercyjnie dostępnych superkondensatorów należących do tej samej serii. Wyznaczono podstawowe parametry prostego modelu zastępczego oraz określono ich rozrzut dla całej badanej grupy. W pracy przedstawiono podstawy teoretyczne zastosowanych metod, konstrukcję stanowiska pomiarowego oraz metodykę przeprowadzenia pomiarów. Rozważania teoretyczne zilustrowano wynikami badań eksperymentalnych oraz symulacyjnych.
6
Direct current method of supercapacitors parameters identification
80%
Błąd G. , Pilecki М. , Potencki J. , Tomaszewski G.
|
2014
|
tom Vol. 55, nr 1
33-35
PL
W pracy zawarta została analiza możliwości wykorzystania stałoprądowej metody pomiarowej do określania parametrów modelu zastępczego superkondesatorów. Przedstawiono podstawy teoretyczne metody, konstrukcję specjalistycznego stanowiska pomiarowego oraz metodykę przeprowadzenia pomiarów. Rozważania teoretyczne zilustrowano wynikami badań eksperymentalnych wybranej grupy superkondesatorów.
EN
An analysis of DC measurement method utilization for determination of the supercapacitors equivalent model parameters has been presented. The used method theoretical principles and the construction of specialized test bench as well as methodology carrying out measurements have also been presented. The theoretical considerations have been illustrated by the measurement results of selected group of supercapacitors.
7
Modeling of properties of multilayer inductances fabricated in different microelectronics technologies
80%
Błąd G. , Pilecki М. , Potencki J. , Tomaszewski G.
|
2014
|
tom Vol. 55, nr 1
30-32
PL
W pracy przedstawiono analizę planarnych indukcyjności wielowarstwowych. Właściwości takich elementów, wykonanych w różnych technologiach mikroelektronicznych, zostały określone i zasymulowane przy użyciu oprogramowania Mentor Graphics – IE3D. Analizowano wpływ ilości warstw, właściwości podłoża, rozmiarów geometrycznych przewodnika, geometrię struktury oraz ich właściwości fizyczne. Zaprezentowany sposób modelowania może być użyty do optymalizacji geometrii, doboru materiału oraz jego parametrów dla projektowania procesu technologicznego indukcyjności planarnych.
EN
An analysis of planar spiral inductors design has been presented. The properties of such elements which can be made in different technologies have been determined and simulated using Mentor Graphics IE3D – high accuracy electromagnetic software. The effect of layer number, substrate, conductor dimensions, geometry of structure and physical properties of inductor parameters have been analyzed. This approach and elaborated procedures can be used to select optimal geometry, materials and parameters of technological processes for the planar inductor design.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.