Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
100%
EN
We report the first results of electron beam lithography processes performed on polymethyl methacrylate (PMMA) and hydrogen silsesquioxane (HSQ) resists, which have been pre-backed in vacuum at T ≤ 90°C. For such low temperature processing the lithographical resolution is reduced as compared to standard procedures, however, the exposure contrast and adhesion to CdTe and HgTe substrates have been sufficient for the fabrication of sub-μ m quantum devices. Furthermore, the new method of electrical microcontact forming is proposed, based on the local melting and annealing of an indium metal layer, performed with the application of accelerated electron beam. The method has been tested for CdTe/CdMgTe quantum wells using the lithography techniques, the exposure parameters have been optimized by inspecting the morphology of annealed metal film via the in situ imaging.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.