Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) was used in order to obtain the information about the surface composition of Pd/ZrO2-TiO2 catalyst and to estimate the changes in the concentration of particular components on its surface during the hydrodechlorination of CCl4. The results demonstrated that the hydrodechlorination process led to the increase in the concentration of chlorine and the drop in the amount of surface accessible palladium, while the quantity of Pd-Cl bounds did not change considerably. It suggested that the presence of ZrO2 protected the surface of the studied catalyst against the formation of PdCl2.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.