Measuring system of the surface electric potential and its distribution is presented. The schematic instrument diagram is discussed. The surface potential distribution of thin carbon layers was investigated by the instrument. The relation of measured voltage with the sample physical parameters are discussed.
PL
Zaprezentowano ukiad do pomiaru powierzchniowego potencjału elektrycznego i jego rozkładu. Omówiono schemat przyrządu, za pomocą którego badano rozkład potencjału powierzchniowego cienkich warstw węglowych. Przedyskutowano związek zmierzonego napięcia z innymi fizycznymi parametrami próbki.
Measuring instrument of the surface electric potential and its distribution is presented. The schematic instrument diagram is discussed. The distribution surface electric potential of monocrystalline and porous silicon was investigated by the instrument. The homogeneity of specimens and the value of band bending p-and n-type silicon was evaluated.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.