This paper describes a method of forecasting the guaranteed operating time using the quantile zones. Also there are presented calculations of the guaranteed time operating error.
PL
Artykuł przedstawia metodę przewidywania bezawaryjnego czasu pracy urządzeń elektronicznych w oparciu o teorię kwantyli. Dodatkowo autorzy dokonują analizy błędów prezentowanej metody.
2
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
The paper presents the results of mathematical modeling of the process leading to the imperfections in the mustistage production line of radio-electronic devices. The matrix approach to this problem is proposed. The main conclusion of the research is that simultaneous development of theory and practice of management of such systems can reduce the imperfections of the radio-electronic products.
PL
Praca przedstawia badania dotyczące modelowania procesu powstawania defektów i niedoskonałości w elementach radioelektronicznych w czasie wielu etapów technologii produkcji. Proponuje się macierzowe podejście do opisu sekwencji produkcyjnych tych elementów. Pokazano, że równoczesny rozwój teorii i praktyki zarządzania takimi procesami może przyczynić się do zmniejszenia niedoskonałości produktów.
3
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
Rozważono formalizację i modelowanie problemu procesu sterowania. Przedstawiono macierz składników sterowania jakością elektronicznych urządzeń i modelowania procesów. Rozwinięto oprogramowanie związane z kompleksową optymalizacją. Pokazano użyteczność pakietu opracowanego programu. Opisano cechy charakterystyczne oprogramowania do modelowania, analizy i optymalizacji urządzeń elektronicznych OPTAN1.
EN
The formalization and modelling of quality control processes problem is considered. Matrix presentation of components of electronic devices quality control and maintenance modelling process is proposed. The correspondent software for complex optimization was developed. The efficacy of developed program package was shown. The peculiarities of developed software for modelling, analysis and optimization of electronic devices process improvement OPTAN1 are described.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.