A surface profile measurement system for scanning the area of 100 mm x 100 mm with the lateral accuracy of 0.1 žm and height accuracy of 50 nm is presented. A confocal element has been used as a measurement head. This paper describes the methodology and the instrumentation including the calibration procedure and a discussion of accuracy.
PL
Opracowany i wykonany został system do pomiaru kształtu powierzchni umożliwiający skaning powierzchni w płaszczyźnie XY w zakresie 100x100 mm z dokładnością 0.1 žm oraz pomiar współrzędnej Z w zakresie 0-100 mm z dokładnością 50 nm. Jako element pomiarowy współrzędnej Z zastosowano sensor konfokalny. W artykule opisano zasadę pomiaru, opisano system pomiarowy, metody kalibracji oraz uzyskane dokładności.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.