PL
|
EN
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na
https://bibliotekanauki.pl
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O nas
Ograniczanie wyników
Czasopisma
1
Metrology and Measurement Systems
Lata
1
2013
Autorzy
1
Grmela L.
1
Majzner J.
1
Sedlak P.
1
Sedlakova V.
1
Sikula J.
1
Sita Z.
Mniej...
Więcej...
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Znaleziono wyników: 1
Liczba wyników na stronie
10
20
50
100
Strona
/ 1
Wyniki wyszukiwania
Sortuj według:
trafności
tytułu publikacji
daty malejąco
daty rosnąco
tytułu czasopisma
nazwiska pierwszego autora
Ogranicz wyniki do:
we wszystkich polach
w tytułach publikacji
w tytułach czasopism
w nazwiskach autorów
w słowach kluczowych
w cytowaniach
Strona
/ 1
1
Dostęp do pełnego tekstu lokalnie
Analysis of Noise and Non-Linearity of I-V Characteristics of Positive Temperature Coefficient Chip Thermistors
100%
Grmela L.
,
Sita Z.
,
Sedlakova V.
,
Majzner J.
,
Sedlak P.
,
Sikula J.
|
|
nr
4
Strona
/ 1
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.