PL
|
EN
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na
https://bibliotekanauki.pl
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O nas
Ograniczanie wyników
Czasopisma
1
Metrology and Measurement Systems
Lata
1
2014
Autorzy
2
Kowalewski A.
1
Boguski J.
1
Ciura Ł.
1
Gawron W.
1
Gorczyca K.
1
Kolek A.
1
Martyniuk P.
1
Stanaszek D.
1
Wróbel J.
Mniej...
Więcej...
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Znaleziono wyników: 2
Liczba wyników na stronie
10
20
50
100
Strona
/ 1
Wyniki wyszukiwania
Sortuj według:
trafności
tytułu publikacji
daty malejąco
daty rosnąco
tytułu czasopisma
nazwiska pierwszego autora
Ogranicz wyniki do:
we wszystkich polach
w tytułach publikacji
w tytułach czasopism
w nazwiskach autorów
w słowach kluczowych
w cytowaniach
Strona
/ 1
1
Dostęp do pełnego tekstu lokalnie
Semiconductor contact layer characterization in a context of hall effect measurements
100%
Kowalewski A.
,
Wróbel J.
,
Boguski J.
,
Gorczyca K.
,
Martyniuk P.
|
2
Dostęp do pełnego tekstu lokalnie
Measurements of Low Frequency Noise of Infrared Photo-Detectors with Transimpedance Detection System
100%
Ciura Ł.
,
Kolek A.
,
Gawron W.
,
Kowalewski A.
,
Stanaszek D.
|
|
nr
3
Strona
/ 1
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.