Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

1

Uniwersalny system testujący urządzenia elektroniczne

100%

Mocha J. , Łaskarzewski Z.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2009

|

tom R. 55, nr 7

426-428

PL

W artykule omówiono sposób działania aplikacji, funkcjonalność systemu, a także przeznaczenie uniwersalnego systemu testującego. Omówiono warstwową architekturę komunikacji pomiędzy częścią sprzętową uniwersalnego stanowiska testującego, aplikacją sterującą oraz systemem bazodanowym i wynikające z takiego podejścia zalety. Przedstawiono nowatorski sposób definiowania logiki testu w postaci wtyczek (ang. plug-in) w połączeniu z parametrami zdefiniowanymi w bazie danych.

EN

The paper presents a universal testing system and its communication mechanisms. The system is dedicated for electronic device testing and configuration during final stage of manufacturing. The system construction was designed for quality control, efficient work, easy self-diagnostics, economic new device types deploying. The introduction contains reference to other systems and popular methods of electronic device testing [1, 2]. In the next section the system architecture [3] is discussed. An easy in-circuit testing method based on the specially prepared testing program loaded to a microcontroller of the tested device is applied in the system. The testing system structure is shown in Fig. 1. The third section contains the description of tester functionality [4] and the block diagram of the testing system hardware part (Fig. 2). The next section presents the tiered architecture of communication between the tester and control application (Fig. 3), SCPI based communication protocol [6], command exchange mechanisms between control application, tester and database server in command flow diagram (Fig. 4) and aspects of test logic design. Start of testing process is connected with loading the plug-in library with test logic definition. The users of the system do not have to be skilled and experienced, since the system is easy to apply and the test design process is rapid. The presented system functionality is sufficient for testing electronic devices and makes it possible to detect many potential damages.

2

Część sprzętowa uniwersalnego stanowiska testującego

100%

Mocha J. , Łaskarzewski Z.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2008

|

tom Vol. 49, nr 11

184-186

PL

W pracy przedstawiono budowę sprzętową uniwersalnego stanowiska testującego, przeznaczonego do końcowych elektrycznych testów urządzeń elektronicznych opuszczających linię produkcyjną. Na wstępie przedstawiono pokrótce metodykę testowania elektrycznego (testowanie funkcjonalne, ICT, kombinowane) oraz założenia projektowe, jakie musi spełniać zaprojektowana część sprzętowa testera. W dalszej części pracy przedstawiono architekturę testera, wraz z opisem budowy jego poszczególnych bloków oraz opisem zaprojektowanego obwodu drukowanego. Przedstawiona część sprzętowa stanowiska testującego jest zasadniczym elementem całego systemu, którym steruje oprogramowanie uruchamiane na komputerze PC. Do komunikacji pomiędzy testerem, a oprogramowaniem sterującym wykorzystana została sieć Ethernet oraz protokół TCP/IP.

EN

The paper describes construction of the universal in-circuit tester. It is dedicated for final testing of electronic devices after manufacturing. There are presented basic methodologies of electrical tests (functional testing, in-circuit testing, mixed). There are also given design requirements for the tester and its architecture in detail including description of each functional block and the PCB design. Presented tester is the fundamental component of the testing system. It works under control of a program running on a PC. The tester uses the Ethernet network and the TCP/IP protocol for control and data transmission.

3

Mechanizmy komunikacji z uniwersalnym urządzeniem testującym

100%

Łaskarzewski Z. , Mocha J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2008

|

tom Vol. 49, nr 11

210-212

PL

Praca zawiera opis mechanizmów komunikacji pomiędzy uniwersalnym urządzeniem testującym a komputerem pełniącym rolę kontrolera systemu. W pierwszej części pracy przedstawiono wymagania dotyczące interfejsu komunikacyjnego testera oraz analizę różnych łączy komunikacyjnych pod kątem zastosowania ich w systemie. W dalszej części przedstawiono przyjęty protokół wymiany komunikatów, a także opis komend SCPI zaimplementowanych w systemie. W końcowej części przedstawiono sposób implementowania testów, który wykorzystuje bibliotekę testów opakowującą komunikaty do testera w funkcje języka programowania wysokiego poziomu.

EN

The paper contains the description of communication mechanisms between the universal in-circuit tester and the personal computer working as system controller. The requirements of tester communication interface and the analysis of the various communication links related with its usage in the system are presented in the first part. Message exchange protocol and SCPI commands implemented in system are described in futher part of this paper. The way of test implementing which uses tests library wrapping tester commands to high-level programming language is shown at the end of this paper.

4

Classification of LPG clients using the Hurst exponent and the correlation coeficient

80%

Domino K. , Głomb P. , Łaskarzewski Z.

Theoretical and Applied Informatics

|

2015

|

tom Vol. 27, No. 1

13--24

EN

In this paper we present the analysis of the gas usage for different types of buildings. First, we introduce the classical theory of building heating. This allows the establishment of theoretical relations between gas consumption time series and the outside air temperature for different types of buildings, residential and industrial. These relations imply dierent auto-correlations of gas usage time series as well as different cross-correlations between gas consumption and temperature time series for different types of buildings. Therefore, the autocorrelation and the cross-correlation were used to classify the buildings into three classes: housing, housing with high thermal capacity, and industry. The Hurst exponent was calculated using the global DFA to investigate auto-correlation, while the Kendall's τ rank coeficient was calculated to investigate cross-correlation.