PL
|
EN
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na
https://bibliotekanauki.pl
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O nas
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Numer - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Czasopismo
---
Rocznik
---
Tom
---
Numer
1
Identyfikatory
Okładka
Zawartość wolumenu
1
artykuł:
The sensitivity analysis of even order biquadratic elliptic filters
(
Pasko M.
,
Adrikowski T.
)
artykuł:
Scanning probe microscopy as a metrology method in microand nanostructure investigations
(
Gotszalk T.
,
Marendziak A.
,
Kolanek K.
,
Szeloch R.
,
Grabiec P.
,
Zaborowski M.
,
Janus P.
,
Rangelow I. W.
)
artykuł:
Robust fault detection using analytical and soft computing methods
(
Korbicz J.
)
artykuł:
Moving from micro- to nanoworld in optical domain scanning probe microscopy
(
Radojewski J.
)
artykuł:
Modern micropassives: fabrication and electrical properties
(
Dziedzic A.
)
artykuł:
Analysis of dynamic loads on lightweight footbridge caused by lorry passing underneath
(
Żółtowski P.
,
Piechna J.
,
Żółtowski K.
,
Zobel H.
)
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.