PL
 |
EN
Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Czasopismo

---

Tytuł artykułu

Conductive atomic force microscope for investigation of thin-film gate insulators

Autorzy
Wielgoszewski, G. , Gotszalk, T. , Woszczyna, M. , Zawierucha, P. , Zschech, E.
Treść / Zawartość
Pełne teksty:
oai-journals-pan-pl-110722/full-text/(56-1)39.pdf
Warianty tytułu
Języki publikacji
PL
Abstrakty
Słowa kluczowe
PL
Czasopismo
---
Opis fizyczny
Twórcy
autor
Wielgoszewski, G.
autor
Gotszalk, T.
autor
Woszczyna, M.
autor
Zawierucha, P.
autor
Zschech, E.
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.oai-journals-pan-pl-110722
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.