Badanie stopnia zdefektowania struktury szkieł tellurowych metodą pomiarów czasów życia pozytonów

• Autorzy: Jacek Filipecki , Edmund Golis , Manuela Reben , Jan Wasylak

Warianty tytułu

Investigation of the Structure of the Tellurite Glasses by Means of Positron Lifetime Measurements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

Spektroskopię czasów życia pozytonów PALS wykorzystano do określenia zmian stopnia zdefektowania struktury szkieł tellurowych domieszkowanych jonami lantanu. W wyniku przeprowadzonych badań, na podstawie uzyskanych widma czasów życia pozytonów obliczono wartości dwóch składowych τ i ich natężeń. Przeprowadzona analiza wskazuje, że uzyskane składowe czasów życia pozytonów odpowiadają w przypadku τ₁ za anihilację z elektronami swobodnymi oraz anihilację w zdefektowanej strukturze typu wakans. Druga składowa τ₂ związana jest z występowaniem defektów objętościowych powstałych na granicy ziaren lub dyslokacji występujących w badanych szkłach. Na podstawie przeprowadzonych badań stwierdzono, że w procentowym udziale natężeń poszczególnych składowych czasów życia pozytonów τ, zdecydowanie przeważają anihilacje swobodne i defekty atomowe typu wakans. (abstrakt oryginalny)

EN

Positron lifetime spectroscopy PALS has been applied of the investigation of the structure of tellurite glasses lanthanum ions doped. As a results of the research of positron lifetimes two components τ and its intensities were obtained. The analysis shows that obtained lifetime components τ₁ are responsible for the occurrence of free positrons annihilation with electrons, on the other hand the intermediate lifetime τ₂ is due to positron trapping modes. The percentage of intensities of individual components of positron lifetime shows that strongly dominated by free positrons annihilation and vacancy-type defects. (original abstract)

Słowa kluczowe

PL

Materiałoznawstwo; Wyroby szklane; Inżynieria materiałowa; Badania właściwości fizycznych

EN

Materials science; Glassware products; Materials engineering; Physical properties research

• Czasopismo: Szkło i Ceramika
• Rocznik: 2011
• Numer: nr 2
• Strony: 9-12

Twórcy

autor

Jacek Filipecki

• Akademia im. Jana Długosza w Częstochowie

autor

Edmund Golis

• Akademia im. Jana Długosza w Częstochowie

autor

Manuela Reben

• AGH Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

autor

Jan Wasylak

• AGH Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

Bibliografia

• Krause-Rehberg R., Leipner H.S.: Positron Annihilation in Semiconductors, Defect Studies, Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1999.
• Dryzek J.: Wstęp do spektroskopii anihilacji pozytonów w ciele stałym, Wyd. Uniw. Jagiellońskiego, Kraków 1997.
• Shpotyuk O., Filipecki J.: Free volume in vitreous chalcogenide semiconductors: possibilities of positron lifetime study, Wydawnictwo Naukowe WSP, Częstochowa 2003 (str. 114).
• Kansy J.: Microcomputer program for analysis of positron annihilation lifetime spectra, Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. A, 364, 235 (1996).
• Schwartz H.A.: J.Phys.Chem., 73, 1928 (1969).
• Stepanov S.V., Byakov V.M.: J.Chem. Phys., 116, 14 (2002).
• J.Kansy, T.Suzuki, T.Ogawa, Radiat. Phys. And Chem., 58, 545 (2000).
• Langhammer H.T., Müller T., Polity A., Felgner K., Abicht H.: Matter. Lett., 26, 205 (1996).
• Zhi Y., Chen A., Massoud A.M., Langhammer H.T.: Rad. Phys. Chem., 68, 549 (2003).
• Filipecki J., Shpotyuk O., Ingram A., Kozdras A.,Shpotyuk L., Hyla M.: J. Phys. Chem. Sol., 68, 998 (2007).
• Nambissan P.M.G., Upadhyah C., Verna H.C.: J. Appl. Phys., 93, 6320 (2003).
• Reben M., Golis E.P., Wasylak J.: Ceramika/Ceramics, 103, 1305 (2008).