Archives of Metallurgy and Materials - Tom Vol. 49, iss. 2 (2004) - Biblioteka Nauki - Yadda

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

Vol. 49, iss. 2

Czasopismo

Archives of Metallurgy and Materials

Wydawca

Rocznik

2004

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

Vol. 49, iss. 2
- artykuł: Diffusion in multicomponent systems (Danielewski M.), s. 189-200
- artykuł: In terdiffusion in non-ideal systems (Filipek R.), s. 201-218
- artykuł: Diffusion in nanoscale (Beke D. I., Erdelyi Z., Szabo I. A., Langer G. A., Katona G., Cserhati C.), s. 219-235
- artykuł: Diffusional properties in technologically advanced intermetallics (Herzig C., Divinski S. V.), s. 237-257
- artykuł: On the behaviour of Kirkendall markers in solid-state interdiffusion (Paul A., Van Dal M. J. H., Kodentsov A. A., Van Loo F. J. J.), s. 259-276
- artykuł: Diffusion processes in diffusion-soldered interconnections (Wojewoda J., Lopez G. A., Zięba P., Mittemeijer E. J.), s. 277-291
- artykuł: Fundamentals of diffusion along moving grain boundaries (Lopez G. A.), s. 293-304
- artykuł: Solute segregation studied by grain boundary diffusion (Divinski S. V., Herzig C.), s. 305-322
- artykuł: Grain boundary phase transitions. Influence on diffusion, plasticity and charge transfer (Straumal B. B.), s. 323-337
- artykuł: Mass transport at the solid\liquid interface during in situ growth of composites (Wołczyński W., Kloch J.), s. 339-354
- artykuł: Selected topics on mass transport in gas-solid interactions (Somers M. A. J.), s. 355-367
- artykuł: Electron probe microanalysis in the study of diffusion in solids (Sikorski K.), s. 369-383
- artykuł: Atomic transport measured by analytical electron microscopy technique (Zięba P.), s. 385-395
- artykuł: Applications of scanning probe microscopy for studying of interfacial thermodynamics and kinetics (Rabkin E., Amouyal Y.), s. 397-410
- artykuł: Synchrotron radiation - a versatile tool for diffusion studies (Sepioł B., Sladecek M., Stadler L. M., Kmieć D., Rennhofer M., Vogl G., Hajduga M.), s. 411-430
- artykuł: Secondary ion mass spectrometry: a powerful tool for diffusion studies in solids (De Souza R. A., Martin M.), s. 431-446

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.