PL
|
EN
Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na
https://bibliotekanauki.pl
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O nas
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Tom - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Tytuł artykułu
Vol. 47, nr 1
Czasopismo
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Wydawca
Rocznik
2006
Identyfikatory
Zawartość wolumenu
Vol. 47, nr 1
artykuł:
Instytut Radioelektroniki Politechniki Warszawskiej w ostatniej dekadzie : w stronę multimedialnego świata łączności bezprzewodowej i inżynierii biomedycznej
(
Modelski J.
), s. 5-10
artykuł:
Właściwości elektryczne, cieplne i mechaniczne nanokrystalicznej miedzi
(
Trzaska M.
), s. 11-13
artykuł:
Wykorzystanie laserów półprzewodnikowych dużej mocy w pomiarach przepływowych metodą PIV
(
Janiczek R.
,
Pisarek J.
,
Wojciechowski A.
), s. 14-15
artykuł:
Analiza prędkości płynu i zawieszonych w nim cząstek metodą PIV
(
Janiczek R.
,
Pisarek J.
,
Wojciechowski A.
), s. 16-23
artykuł:
Układ sterowania przekształtnikiem sieciowym z funkcją filtru aktywnego z estymacją zastępczej SEM sieci
(
Wojciechowski D.
), s. 24-27
artykuł:
Przetwornica DC-DC z miękką komutacją tranzystorów
(
Kowalewski K.
,
Lewicki A.
), s. 28-30
artykuł:
Metoda mnożenia przebiegów prądu i napięcia w pomiarach mocy traconej w elementach aktywnych układów wielkiej częstotliwości
(
Modzelewski J.
), s. 31-34
artykuł:
Trójfazowy generator odkształconych przebiegów napięciowych
(
Supronowicz H.
,
Olszewski A.
,
Fabijański P.
), s. 35-38
artykuł:
Analiza częstotliwościowa sprzężeń elektromagnetycznych w układach ścieżek mikroelektronicznego układu hybrydowego
(
Kalita W.
,
Spiralski L.
,
Sabat W.
), s. 39-44
artykuł:
Nonlinear and fluctuation phenomena as reliability predictors for foil capacitors
(
Hasse L.
,
Turczyński J.
,
Spiralski L.
), s. 45-48
artykuł:
1/f noise as a diagnostic tool for non-destructive testing of silicon solar cells
(
Chobola Z.
,
Hasse L.
,
Spiralski L.
), s. 48-49
artykuł:
Influence of the clock signal phase fluctuation on the precision of time-interval measurement
(
Zieliński M.
,
Kowalski M.
,
Grzelak S.
,
Chaberski D.
,
Frankowski R.
), s. 50-52
artykuł:
Pomiar grubości membran krzemowych stosowanych w mikroczujnikach
(
Gołębiowski J.
,
Prohuń T.
,
Rybak M.
), s. 53-56
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.