Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Tom Vol. 46, nr 10 (2005) - Biblioteka Nauki - Yadda

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

Vol. 46, nr 10

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Wydawca

Rocznik

2005

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

Vol. 46, nr 10
- artykuł: Źródła szumów w rezystorach grubowarstwowych na bazie dwutlenku rutenu (Kolek A., Zawislak Z., Stadler A. W.), s. 38-40
- artykuł: Wpływ wybranych czynników na parametry termiczne przyrządów półprzewodnikowych (Górecki K., Zarębski J., Stepowicz W. J.), s. 18-20
- artykuł: Ultradźwiękowa, korelacyjna metoda pomiaru parametrów przepływów dwufazowych ciecz-gaz (Andruszkiewicz A.), s. 41-44
- artykuł: System akwizycji danych do ultraszybkich detektorów krzemowych do źródeł elektronów i promieniowania gamma (Jastrząb M., Czermak A., Dulny B., Kucewicz W., Niemiec H., Sapor M., Sowicki B., Zalewska A.), s. 8-10
- artykuł: Rodzina filtrów o skończonej odpowiedzi impulsowej z linią opóźniającą o naprzemiennie połączonych układach opóźniających dwóch typów z przełączanymi kondensatorami (Dąbrowski A., Długosz R., Pawłowski P.), s. 5-8
- artykuł: Radiowy mieszacz próbkujący z konwersją bezpośrednią i dużym tłumieniem w kanale pasożytniczym (Andersson S., Konopacki J., Dąbrowski J., Svensson C.), s. 11-13
- artykuł: Quality control in bio-medicine and bio-engineering through application of sophisticated production metrology (Afjehi-Sadat A., Durakbasa M. N., Osanna P. H., Samarawickrama D. Y. D., Stout K. J.), s. 46-50
- artykuł: Procedury operacyjne w systemie cyfrowego selektywnego wywołania : DSC (Czajkowski J.), s. 31-37
- artykuł: Prezentacja skuteczności wybranych metod zabezpieczania danych w systemach telekomunikacyjnych (Pawłowicz B., Gotfryd M.), s. 21-26
- artykuł: Model wpływu rozrzutu długości bramek tranzystorów MOS na równomierność rozprowadzania sygnału (Kasprowicz D.), s. 14-17
- artykuł: Measurement uncertainty and MEMS (Weckenmann A., Wiedenhoefer T.), s. 51-53

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.