Konstrukcja mikroskopu sił atomowych z układem obrazowania wykorzystującym składowe harmoniczne

• Autorzy: Pawłowski, S. , Majcher, A. , Zbrowski, A. , Mrozek, M.
• Konferencja: Problemy Rozwoju Maszyn Roboczych (XXVII; 26-30.01.2014; Zakopane, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

EN

The paper presents the design of the atomic force microscope. The basic criterion for its development was the ease of use associated with high measurement parameters. The used modular design of mechanical, control and software elements allows to make changes and in¬troduce modifications to extend the range of applications of the device. One such modification involving the imaging of objects using the measurement of the amplitude and the phase of the signal from the probe working in an intermittent contact mode was described.

PL

W artykule przedstawiono konstrukcję zbudowanego mikroskopu sił atomowych. Podstawowym kryterium przy jej opracowaniu była prostota obsługi przy zachowaniu wysokich parametrów pomiarowych. Zastosowano modułowość rozwiązań mechanicznych, sterowania i oprogramowania, co umożliwia wprowadzanie zmian i modyfikacji rozszerzających zakres zastosowań urządzenia. Opisano jedną z takich modyfikacji polegającą na obrazowaniu badanych obiektów z wykorzystaniem pomiaru amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z sondy pracującej w trybie kontaktu przerywanego.

Słowa kluczowe

PL

mikroskop sił atomowych; parametr pomiarowy; obrazowanie obiektów

EN

atomic force microscope; measurement parameters; objects imaging

• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Mechanika / Politechnika Opolska
• Rocznik: 2014
• Tom: z. 103
• Strony: 145--148
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz.

Twórcy

autor

Pawłowski, S.

• Uniwersytet Łódzki, Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej,

autor

Majcher, A.

• Instsytut Technologii Eksploatacji – PIB,

autor

Zbrowski, A.

• Instsytut Technologii Eksploatacji – PIB,

autor

Mrozek, M.

• Instsytut Technologii Eksploatacji – PIB,

Bibliografia

• [1] CLEVELAND J.P., ANCZYKOWSKI B., SCHMID A.E., ELINGS V.B.: Energy dissipation in tapping-mode atomic force microscopy. Appl. Phys. Lett. 72, 2613 (1998).
• [2] JEONG Y., JAYANTH G.R., JHIANG S.M., MENQ C.H.: Direct tip-sample interaction force control for the dynamic mode atomic force microscopy. Appl. Phys. Lett. 88, 204102 (2006).
• [3] MAJCHER A., MROZEK M., ZBROWSKI A., OLEJNICZAK W., PAWŁOWSKI S., PISKORSKI M.: Mikroskop STM/AFM do zastosowań badawczych w zaawansowanych technologiach w przemyśle oraz w dydaktyce szkół wyższych. Problemy Eksploatacji 3/2011, s. 177–188.
• [4] BODIGUEL H., MONTES H., FRETIGNY C.: Depth sensing and dissipation in tapping mode atomic force microscopy. Rev. Sci. Instr. 75, 2529 (2004).
• [5] LI H., CHEN Y., DAI L.: Concentrated-mass cantilever enhances multiple harmonics in tapping-mode atomic force microscopy. Appl. Phys. Lett. 92, 151903 (2008).