Zasady dobrej praktyki metrologicznej, zapewniające wiarygodne wyniki pomiarów struktury geometrycznej powierzchni

• Autorzy: Adamczak, S. , Świderski, J. , Miller, T. , Wieczorowski, M. , Chmielik, I.

Warianty tytułu

EN

Principles of good metrological practice in order to ensure reliable measurements of the surface structure

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono najważniejsze czynniki wpływające na uzyskiwanie wiarygodnych wyników pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Omówiono zasady doboru metody pomiarowej, dostosowanej do charakteru mierzonej powierzchni i cech poszczególnych przyrządów pomiarowych – ich zalet, wad i ograniczeń. Podano zasady dobrej praktyki metrologicznej podczas przygotowywania przyrządu do pomiarów oraz sposób prawidłowego prowadzenia analizy otrzymanych wyników pomiaru w celu obliczenia parametrów struktury geometrycznej powierzchni.

EN

The most important factors influencing obtaining reliable results of surface structure measurements are presented. The article presents the rules for the selection of an appropriate measurement method adapted to the nature of the measured surface and the advantages, disadvantages and limitations of measuring instruments. Principles of good metrological practice during the preparation of the device for carrying out measurements and performing the analysis in order to calculate the parameters of the of the surface structure were discussed.

Słowa kluczowe

PL

niepewność pomiaru; profilometria stykowa ostrzem odwzorowującym; struktura geometryczna powierzchni

EN

measurement uncertainty; contact stylus scanning; surface texture

• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2018
• Tom: R. 91, nr 12
• Strony: 1104--1109
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tabl.

Twórcy

autor

Adamczak, S.

• Wydział Mechatroniki i Budowy Maszyn Politechniki Świętokrzyskiej,

autor

Świderski, J.

• Wydział Mechatroniki i Budowy Maszyn Politechniki Świętokrzyskiej,

autor

Miller, T.

• Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania,

autor

Wieczorowski, M.

• Politechnika Poznańska,

autor

Chmielik, I.

• Taylor Hobson,

Bibliografia

• 1. PN-EN ISO 25178-6:2011 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) – Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna – Część 6: Klasyfikacja metod pomiaru struktury geometrycznej powierzchni.
• 2. PKN-ISO/IEC Guide 99:2010 Międzynarodowy słownik metrologii – Pojęcia podstawowe i terminy z nimi związane (VIM).
• 3. PN-EN ISO 25178-70:2014 SGP: Przestrzenna – Część70: Wzorce materialne.
• 4. Miller T., Adamczak S., Świderski J., Wieczorowski M., Łętocha A., Gapiński B. “Influence of temperature gradient on surface texture measurements with the use of profilometry”. Bulletin of the Polish Academy of Sciences. 65, 1 (2017): s. 53–61.
• 5. PN-EN ISO 25178-701:2010 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) – Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna – Część 701: Wzorcowanie i wzorce do przyrządów stykowych (z ostrzem odwzorowującym).
• 6. PN-EN ISO 5436-1:2002 Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS) – Struktura geometryczna powierzchni: Metoda profilowa – Wzorce – Część 1: Wzorce materialne.
• 7. PN-EN ISO 5436-2:2013-04 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) – Struktura geometryczna powierzchni: Metoda profilowa – Wzorce –Część 2: Wzorce programowane.
• 8. PN-EN ISO 25178-71:2013-06 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) – Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna – Część 71: Wzorce programowane.

Uwagi

PL

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2019).

Identyfikatory

DOI

doi.org/10.17814/mechanik.2018.12.196