Mikrostruktura i stopień degradacji warystorów ZnO z eksploatacji w badaniach mikroskopowych

• Autorzy: Papliński, P. , Ranachowski, P.

Warianty tytułu

EN

Microscopic investigations of microstructure and degradation effects in operated MO varistors

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono wyniki badań mikrostruktury warystorów ZnO, wchodzących w skład beziskiernikowych ograniczników przepięć wysokiego napięcia. Badania obejmowały warystory wykonane w różnych okresach i przez różnych producentów. Inspiracją do podjęcia badań były różniące się charakterystyki prądów płynących przez ograniczniki w funkcji napięcia systemu w rozdzielni 400 kV oraz temperatury, w cyklu rocznym. Ponadto badane były efekty degradacji mikrostruktury warystorów po awarii rozszczelnionego ogranicznika przepięć. Uzyskane wyniki dały podstawę do oceny parametrów mikrostruktury warystorów ZnO z punktu widzenia ich trwałości i odporności na procesy degradacji.

EN

The article presents the results of investigation of microstructure and degradation of ZnO varistors of the high voltage surge arresters. The research included varistors made at different times and by different manufacturers. The inspiration to undertake the study were differing characteristics of currents flowing through the limiter as a function of surge voltage system of 400 kV and temperature on an annual basis. In addition, there were studied the effects of the microstructure degradation of the varistors from the surge arrester after the breakdown. The results gave the basis for the evaluation of the microstructure parameters of the ZnO varistors from the point of view of their durability and resistance to degradation processes.

Słowa kluczowe

PL

ogranicznik przepięć; warystor ZnO; mikrostruktura ceramiki; degradacja ceramiki

EN

surge arrester; MO varistor; microstructure of ceramics; ceramic material degradation

• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2016
• Tom: R. 92, nr 10
• Strony: 120--125
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Papliński, P.

• Instytut Energetyki – Instytut Badawczy (IEn), ul. Mory 8, 01-330 Warszawa,

autor

Ranachowski, P.

• Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN (IPPT PAN), ul. Pawińskiego 5b, 02-106 Warszawa,

Bibliografia

• [1] Clarke D.R., On the equilibrium thickness of intergranular glass phases in ceramic materials, J. Am. Ceram. Soc., 85 (1999), 485- 502
• [2] Levinson L.M., editor, Advances in Varistor Technology, Ceramic Transactions, 3 (Am. Ceram. Soc. 1989)
• [3] Greuter F., Blatter G., Electrical properties of grain boundaries in polycrystalline compound semiconductors, Semiconductors Science and Technology, 5, 2 (1990) 111-137
• [4] Jaroszewski M., Kostyła P., Wacławek Z., Metoda określania wartości parametrów wewnętrznych warystora na podstawie pomiaru wartości chwilowych prądu i napięcia. Przegląd Elektrotechniczny Konferencje, 3 (2007) 115-116
• [5] Sposób diagnozowania stanu zużycia ograniczników przepięć, Patent Instytutu Energetyki nr 194 371 (2007)
• [6] Papliński P., Ranachowski P., Badania powierzchni elementów wewnętrznych ograniczników przepięć, Przegląd Elektrotechniczny, 5a (2012) 73-76

Uwagi

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na
działalność upowszechniającą naukę.

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2016.10.29