Some remarks on the paper "Optimization of S:Sn precursor molar concentration on the physical properties of spray deposited single phase Sn₂S₃ thin films" by J. Srivind, V.S. Nagaretthinam, A.R. Balu [Mater. Sci.-Poland, 34 (2016), 393 – 398]

• Autorzy: Tomaszewski, Paweł E.
• Języki publikacji: EN

Słowa kluczowe

EN

X-ray diffraction; thin films; error; Sn2S3

• Czasopismo: Materials Science Poland
• Rocznik: 2020
• Tom: Vol. 38, No. 3
• Strony: 400--401
• Opis fizyczny: Bibliogr. 1 poz.

Twórcy

autor

Tomaszewski, Paweł E.

• Institute of Low Temperature and Structure Research, Polish Academy of Sciences, P. No. 1410, 50-950 Wrocław, Poland,

Bibliografia

• [1] SRIVIND J., NAGARETTHINAM V.S., BALU A.R., Mater. Sci.-Poland, 34 (2016), 393.

Identyfikatory

DOI

10.2478/msp-2018-0101