Czasopismo
2000
|
R. 2, nr 44
|
409--416
Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
Olympus BX60M and VISILOG4 in application to stereological investigation
Języki publikacji
Abstrakty
W pracy podano charakterystykę najistotniejszych składowych software’owej wersji komputerowego analizatora obrazu, bazującej na najnowszej wersji mikroskopu Olympus i systemie analizy VISILOG4, który poddano kompleksowemu oprogramowaniu stereologicznemu. Praca zawiera również szczegółowy protokół pomiarowy mikrostruktury oraz wskazuje na zgodność pomiarów stereologicznych z wartościami parametrów podanymi dla skali A wzorców Nr 1-10 wielkości ziarna PN.
The characteristic of the most important parts of the software version of the computer-aided image analyzer based on the newest version of the Olympus microscope and the VISILOG4-type analysis system is given. The paper contains also the detailed protocol of investigations of the microstructure as well as points out an agreement between stereological measurements and values of parameters given for scale A of standards No 1-10 of PN grain dimensions.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
409--416
Opis fizyczny
rys., tab., wykr.
Twórcy
autor
- Katedra Materiałoznawstwa - Zakład Badań Warstwy Wierzchniej Uniwersytetu Śląskiego, jcybo@metrolo1.tech.us.edu.pl
autor
- Katedra Materiałoznawstwa - Zakład Badań Warstwy Wierzchniej Uniwersytetu Śląskiego
autor
- Katedra Materiałoznawstwa - Zakład Badań Warstwy Wierzchniej Uniwersytetu Śląskiego
autor
- Katedra Materiałoznawstwa - Zakład Badań Warstwy Wierzchniej Uniwersytetu Śląskiego
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-d5c16368-1c9a-400f-83a0-823442a92a8e