Warianty tytułu
Wyznaczanie niezawodności układów nanoskopowych przy użyciu procesów półmarkowowskich
Języki publikacji
Abstrakty
The main purpose of the article is to investigate the reliability process of nanoelectronics devices. Firstly, the research problem is presented based on foreign data source. Then, the analytical method has been chosen – semi-Marcov processes. Next, according to the adopted method and input data, the operating process has been analyzed. Finally, the probabilities of objects being in particular operating states, e.g. in the state of failure-free operation have been determined.
W artykule badany jest proces niezawodności urządzeń nanoelektronicznych. Na początku przedstawiono problem badawczy, w oparciu o zagraniczne źródła danych. Następnie dobrano metodę analityczną – procesy półmarkowowskie. W kolejnej części, bazując na przyjętej metodzie i danych wejściowych, przeanalizowano proces eksploatacji, wyznaczając prawdopodobieństwa przebywania obiektów w poszczególnych stanach eksploatacyjnych, np. w stanie bezawaryjnej pracy.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
277--296
Opis fizyczny
Bibliogr. 14 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- Military University of Aviation (Lotnicza Akademia Wojskowa)
autor
- Military University of Aviation (Lotnicza Akademia Wojskowa)
autor
- Military University of Aviation (Lotnicza Akademia Wojskowa)
autor
- Air Force Institute of Technology (Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych)
autor
- Air Force Institute of Technology (Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych)
Bibliografia
- 1. Aassime A., Delsing P., Claeson T.: A sensitive and fast radio frequency singleelectron transistor. Nanotechnology 12 96, 2001.
- 2. Abeita P.: Superconducting Quantum Interference Devices for the Detection of Magnetic Flux and Application to Airborne High Frequency Direction Finding, Theses and Dissertations, 2015.
- 3. Archer M.D.: High Frequency Magnetic Field Direction Finding Using MGL-S8A Bdot Sensors. Theses and Dissertations, 850, 2013.
- 4. Astafiev A., Antonov V., Kutsuwa T., Komiyama S.: Single electron transistors as farinfrared photon detectors, Device Research Conference. Conference Digest (Cat. No.01TH8561), Notre Dame, IN, USA, 2001, DOI 10.1109/DRC.2001.937907.
- 5. Kharat D.K., Muthurajan H., Praveenkumar B.: Present and Futuristic Military Applications of Nanodevices”, Synthesis and Reactivity in Inorganic, Metal-Organic, and Nano-Metal Chemistry, 36:2, 231-235, 2006.
- 6. Kvasager T.K.: Superconducting Quantum Interference Device Array Based High Frequency Direction Finding on an Airborne Platform". Theses and Dissertations, 2016.
- 7. Kumar O., Kaur M.: Single electron transistor: Applications & problems, International journal of VLSI design & Communication Systems (VLSICS), Vol.1, No.4, 2010.
- 8. Martínez-Pérez M. J, Koelle D., NanoSQUIDs: Basics & recent advances Physical Sciences Reviews 2, 20175001, 2017.
- 9. Wu C.S.: Coupled single-electron transistors as a differential voltage amplifier. New J. Phys, 8, 300, 2006.
- 10. Zieja M., Ważny M., Jasztal M., Stępień S.: Estimation of Reliability for Aircraft Systems as Regards the Impact of Destructive Ageing Processes, Conference: Proceedings of the 29th European Safety and Reliability Conference (ESREL), 2019.
- 11. Żurek J., Zieja M., Ziółkowski J., Borucka A.: Vehicle Operation Process Analysis using the Markov Processes, Conference: Proceedings of the 29th European Safety and Reliability Conference (ESREL), 2019.
- 12. https://starcryo.com/
- 13. http://www.supracon.com/en/squid.html
- 14. https://www.ngdc.noaa.gov/geomag/WMM
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-d4a316f4-3b92-4a5e-85b6-2ad14547a1e0
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.