Nowe podejście do badania śladów w kryminalistyce

• Autorzy: Szynkowska, M. I. , Osingłowska, K. , Pawlaczyk, A. , Palińska, K. , Marcinek, M. , Rogowski, J. , Czubak, A. , Parczewski, A.

Warianty tytułu

EN

New approach in forensic studies of trace evidences

• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

kryminalistyka; chemia sądowa; ToF-SIMS

EN

forensics; forensic chemistry; TOF-SIMS

• Czasopismo: Przemysł Chemiczny
• Rocznik: 2013
• Tom: T. 92, nr 6
• Strony: 1125--1133
• Opis fizyczny: Bibliogr. 24 poz., il., tab., wykr.

Twórcy

autor

Szynkowska, M. I.

• Instytut Chemii Ogólnej i Ekologicznej, Politechnika Łódzka, ul. Żeromskiego 16, 90-924 Łódź,

autor

Osingłowska, K.

• Politechnika Łódzka, ul. Żeromskiego 16, 90-924 Łódź

autor

Pawlaczyk, A.

• Politechnika Łódzka, ul. Żeromskiego 16, 90-924 Łódź

autor

Palińska, K.

• Politechnika Łódzka, ul. Żeromskiego 16, 90-924 Łódź

autor

Marcinek, M.

• Politechnika Łódzka, ul. Żeromskiego 16, 90-924 Łódź

autor

Rogowski, J.

• Politechnika Łódzka, ul. Żeromskiego 16, 90-924 Łódź

autor

Czubak, A.

• Instytut Ekspertyz Sądowych, Kraków

autor

Parczewski, A.

• Instytut Ekspertyz Sądowych, Kraków
• Uniwersytet Jagielloński, Kraków

Bibliografia

• 1. C. Beccaria, O przestępstwach i karach, WNT, Warszawa 1959 r.
• 2. E. Locard, Dochodzenie przestępstw według metod naukowych, Nasza Księgarnia, Łódź 1937 r.
• 3. T. Hanausek, Kryminalistyka. Zarys wykładu, WoltersKluwer Polska, Warszawa 2009 r.
• 4. B. Hołyst, Kryminalistyka, LexisNexis, Warszawa 2010 r.
• 5. D.C. Muddiman, A.I. Gusev, L.B. Martin, D.M. Hercules, FreseniusJ. Anal Chem. 1996, 354, 103.
• 6. F. Saldi, S. Schneider, C. Marson, R. Wenning, H.N. Migeon, [w:] Secondary Ion Mass Spectrometry (red. A. Benninghoven, P. Bertrand, H.N. Migeon, H.W. Werner), Elsevier, Amsterdam 2000 r., 893.
• 7. J. Coumbaros, K.P. Kirkbride, G. Klass, W. Skinner, Forensic Sci. Int. 2001, 119, 72.
• 8. J.N. Audinot, M. Yegles, A. Labarthe, D. Ruch, R. Wennig, Appl. Surface Sci. 2003, 718, 203.
• 9. I.M. Kempson, W.M. Skinner, Sci. Total Environ. 2005, 338, 213.
• 10. M.I. Szynkowska, K. Czerski, J. Grams, T. Paryjczak, A. Parczewski, Imaging Sci. J. 2007, 55, 180.
• 11. M.I. Szynkowska, K. Czerski, J. Rogowski, T. Paryjczak, A. Parczewski, Forensic Sci. Int. 2009, 184, 24.
• 12. M.I. Szynkowska, K. Czerski, J. Rogowski, T. Paryjczak, A. Parczewski, Surface Interface Anal. 2010, 42, 393.
• 13. M.I. Szynkowska, K. Szajdak, J. Rogowski, A. Parczewski, Surface Interface Anal. 2013, 45, 596.
• 14. M.I. Szynkowska, K. Czerski, T. Paryjczak, A. Parczewski, Surface Interface Anal. 2010, 42, 429.
• 15. J.A. Denman, W.M. Skinner, K.P. Kirkbride, I.M. Kempson, Appl. Surface Sci. 2010, 256, 2155.
• 16. M.I. Szynkowska, K. Czerski, T. Paryjczak, A. Parczewski, Chemometria w nauce i praktyce, Wydawnictwo Instytutu Ekspertyz Sądowych, Kraków 2009 r.
• 17. T. Trejos, A. Flores, Jose R. Almirall, Spectrochim. Acta, B 2010, 65, 884.
• 18. F.A. Orellana, C.G. Galvez, M.T. Roldan, C. Garcia-Ruiz, Trends Anal. Chem. 2013, 42, 1.
• 19. Ch.D. May, R.J. Watling, Forensic Sci., Medicine Pathology 2009, 5, 66.
• 20. E.R. Schenk, J.R. Almirall, Forensic Sci. Int. 2012, 217, 222.
• 21. M. Manso, M.L. Carvalho, Spectrochim. Acta, B 2009, 64, 482.
• 22. T. Paryjczak, M.I. Szynkowska, Przem. Chem. 2003, 82, nr 3, 199.
• 23. J.C. Vickerman, D. Briggs, TOF-SIMS. Surface analysis by mass spectrometry, IMP Surface Spectra Limited, Chichester 2001 r.
• 24. A. Benninghoven, Angew. Chem. Int. Ed. 1994, 33, 1023.

Uwagi

PL

Praca częściowo wykonana w ramach projektu NN 209 434839 finansowanego przez Komitet Badań Naukowych.