Generowanie wieloprzebiegowych kontrolowanych testów losowych

• Autorzy: Mrozek, I. , Yarmolik, V.

Warianty tytułu

EN

Generating of multiple controlled random tests

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zauważalną niedoskonałością standardowego podejścia do kontrolowanego generowania testów losowych jest wysoka złożoność obliczeniowa procesu. Dlatego w artykule przedstawiona zostanie technika kontrolowanego generowania testów losowych pozwalająca w sposób znaczny zmniejszyć tę złożoność. Technika ta wykorzystuje ideę testów wieloprzebiegowych i w odróżnieniu od podejścia klasycznego skupia się na generowaniu całych kolejnych testów a nie pojedynczych wzorców testowych.

EN

Available evidences suggest that high computational complexity is one of the main drawback of controlled random tests. Therefore a technique to overcome this problem is proposed in the paper. We introduce the concept of multiple controlled random tests (MCRT) and examine various numerical characteristics in terms of the development of those tests. An important key advantage of these techniques is that, in contrast to standard controlled random tests, they use a general characteristic for the test as a whole instead of separately for each test vector.

Słowa kluczowe

PL

kontrolowane generowanie testów losowych; testy wieloprzebiegowe; testy antylosowe

EN

controlled random tests generation; random tests; antirandom tests

• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2016
• Tom: Vol. 57, nr 11
• Strony: 99--101
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., tab.

Twórcy

autor

Mrozek, I.

• Politechnika Białostocka, Wydział Informatyki

autor

Yarmolik, V.

• Politechnika Białostocka, Wydział Informatyki

Bibliografia

• [1] Anand S, Burke EK, Chen TY, Clark J, Cohen MB, Grieskamp W et al. 2013. An Orchestrated Survey of Methodologies for Automated Software Test Case Generation. J Syst Softw. 86(8): 1978–2001. ISSN:0164-1212.
• [2] Junpeng L, Hai H, Kai-Yuan C, Chen TY. 2014. Adaptive and Random Partition Software Testing. IEEE T Systems, Man, and Cybernetics: Systems. 44(12): 1649–1664. doi:10.1109/ TSMC.2014.2318019.
• [3] Malaiya YK, Yang S. 1984. The Coverage Problem for Random Testing. In: Proceedings of the 1994 IEEE International Test Conference. ITC ’84; p. 237–245.
• [4] Shahbazi A, Tappenden AF, Miller J. 2013. Centroidal Voronoi Tessellations – A New Approach to Random Testing. IEEE Transactions on Software Engineering. 39(2): 163–183. doi:10.1109/ TSE.2012.18.
• [5] Tappenden AF, Miller J. A. 2009. Novel Evolutionary Approach for Adaptive Random Testing. IEEE Transactions on Reliability. 58(4): 619–633. doi:10.1109/TR.2009.2034288.
• [6] Wu SH, Jandhyala S., Malaiya YK, Jayasumana AP. 2008. Antirandom testing: a distance-based approach. VLSI Design. 2008:1–2. Available from: http://dx.doi.org/10.1155/2008/165709.
• [7] Malaiya YK. 1995. Antirandom Testing: Getting The Most Out Of Black-Box Testing. In: Proceedings of 6thIEEE International Symposium on Software Reliability Engineering. ISSRE ’95. IEEE Computer Society; p. 86–95. Available from: http://www. cs.colostate.edu.
• [8] Mrozek, I. and Yarmolik, VN. 2012. Antirandom test vectors for BIST in hardware/software systems, Fundam. Inform., 119(2), p. 163–185. doi: 10.3233/FI-2012-732.
• [9] Nicolaidis M. 1992. Transparent BIST for RAMs. In: Proceedings IEEE. International Test Conference,Discover the New World of Test and Design, Baltimore, Maryland, USA, September 20–24, 1992. IEEE Computer Society. p. 598–607.
• [10] Yarmolik S. 2008. Address sequences and backgrounds with different Hamming distances for multiple run March tests. International Journal of Applied Mathematics and Computer Science. 18(3): 329–339. doi:10.2478/v10006-008-0030-y.
• [11] Mrozek I., Yarmolik VN. 2016 Multiple Controlled Random Testing. Fundam. Inform. 144(1): 23–43: doi: 10.3233/FI-2016-1322.
• [12] Mrozek, I., Yarmolik, VN. 2015. Kontrolowane generowanie optymalnych testów losowych. Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. 56(8) s. 64–66 doi:10.15199/13.2015.8.15.

Uwagi

PL

1. Artykuł powstał w ramach pracy statutowej S/WI/3/13 realizowanej na Wydziale Informatyki Politechniki Białostockiej finansowanej przez Ministerstwo Nauki i Szkolnictwa Wyższego w Polsce.

PL

2. Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017).

Identyfikatory

DOI

10.15199/13.2016.11.21