Czasopismo
2011
|
R. 87, nr 10
|
184-187
Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
Usage of Two-Center Basis function classifier for analog parts faults diagnosis of electronic embedded systems
Języki publikacji
Abstrakty
Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie filtru dolnoprzepustowego 3-go rzędu.
The aim of the paper is usage of the classifier with Two-Center Basis Functions for detection and localization of faults in electronic embedded systems controlled with microcontrollers. Details of measurement and diagnosis procedures with use of the TCB classifier implemented in the microcontroller’s program code were presented. Construction and a method of obtaining of parameters the TCB classifier on the exemplary 3th order filter were presented.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
184-187
Opis fizyczny
Bibliogr. 9 poz., il., tabl., wykr.
Twórcy
autor
autor
autor
- Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk, zbczaja@pg.gda.pl
Bibliografia
- [1] Czaja Z., A simple fault diagnosis method for analog parts of electronic embedded systems, Proceedings of the XIX IMEKO World Congress, Lisbon, Portugal, (2009), 763-768
- [2] Czaja Z., A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances, Measurement, 42, (2009), 903-915
- [3] Czaja Z. , Zielonko R., Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces, Trans. on Instr. and Measurement, vol. 52, n? 1, (2003), 97-102
- [4] Yang Z. R., Zwolinski M., Applying a robust heteroscedastic probabilistic neural network to analog fault detection and classification, IEEE Trans. CAD IC&S, vol. 19, (2000), 142-151
- [5] Toc zek W. , Kowalews ki M., A neural network based system for soft faults diagnosis in electronic circuits, Metrology and Measurements Systems, vol. 12, n? 4, (2005), 463-474
- [6] Kowalews ki M., Two-center radial basis function network for classification of soft faults in electronic analog circuits, In proc. of the IMTC’2007 Conference, Warsaw, Poland, (2007)
- [7] Kowalews ki M. , Zielonko R., The New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits, International IEEE Conference on Information Technology, Gdańsk, Zesz. Nauk. Wydz. ETI PG, Tom 18, (2010), 267-272
- [8] Bartosinski B., Zielonko R., New Classes of Complementary Signals, Electronics Letters, vol. 23, n? 9, (1987), 433-434
- [9] Zaleski D. , Zielonko R. , Bartosins k i B., Application of Complementary Signals in Built-In Self Testers for Mixed- Signal Embedded Electronic Systems, Trans. on Instr. and Measurement, vol. 59, n? 2, (2010), 345-352
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-PWA7-0053-0014