Testery magistrali diagnostycznej

Bartosiński, B.; Borkowska, M.; Gliński, K.; Gonera, M.; Hoja, J.; Rydzkowski, W.; Wach, A.; Zbrzeżny, B.; Zielonko, R.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Artykuł - szczegóły

Czasopismo

Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki

1998 | nr 134 | 4-1

Tytuł artykułu

Testery magistrali diagnostycznej

Autorzy

Bartosiński, B. , Borkowska, M. , Gliński, K. , Gonera, M. , Hoja, J. , Rydzkowski, W. , Wach, A. , Zbrzeżny, B. , Zielonko, R.

Warianty tytułu

Języki publikacji

Abstrakty

Słowa kluczowe

magistrala diagnostyczna testery magistrali diagnostycznej system ASSET

diagnostic rout diagnostic rout testers ASSET system advanced support system for emulationand test

Wydawca

Czasopismo

Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki

Rocznik

1998

Tom

nr 134

Strony

4-1

Opis fizyczny

--4-15, Bibliogr. 7 poz., rys.

Twórcy

autor

Bartosiński, B.

autor

Borkowska, M.

autor

Gliński, K.

autor

Gonera, M.

autor

Hoja, J.

autor

Rydzkowski, W.

autor

Wach, A.

autor

Zbrzeżny, B.

autor

Zielonko, R.

Politechnika Gdańska

Bibliografia

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikatory

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-PWA3-0030-0003