Metody projektowania łatwo diagnozowalnych układów analogowo-cyfrowych, zawierających moduł kontrolny w postaci magistrali diagnostycznej IEEE 1149.4

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Czasopismo

Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki

1998 | nr 134 | 2-1

Tytuł artykułu

Autorzy

Borkowska, M. , Gonera, M.

Warianty tytułu

Języki publikacji

Abstrakty

Słowa kluczowe

analiza niezdatności systemy analogowo-cyfrowe magistrala diagnostyczna IEEE

analysis of uneligibility systems analog-digital IEEE diagnoustic route

Wydawca

Czasopismo

Rocznik

1998

Tom

nr 134

Strony

2-1

Opis fizyczny

--2-10, Bibliogr. 5 poz.

Twórcy

autor

Borkowska, M.

autor

Gonera, M.

Bibliografia

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikatory

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-PWA3-0030-0001