System testowania układów z portem testowym

• Autorzy: Kern, J.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

układy elektroniczne; układy scalone; port testowy; mikroprocesory; sterowniki

EN

electronic matches; matches integrated; postage test; microprocessors

• Czasopismo: Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki
• Rocznik: 2001
• Tom: nr 146
• Strony: 234-238
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., rys., schem.

Twórcy

autor

Kern, J.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki ul. Długa 44/50 00-241 Warszawa