Możliwości techniki XRF w oznaczaniu składu chemicznego materiałów

Mzyk, Z.; Mzyk, J.

Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Artykuł - szczegóły

Czasopismo

LAB Laboratoria, Aparatura, Badania

2003 | R. 8, nr 5 | 34-36

Tytuł artykułu

Możliwości techniki XRF w oznaczaniu składu chemicznego materiałów

Autorzy

Mzyk, Z. , Mzyk, J.

Warianty tytułu

Języki publikacji

Abstrakty

Fluorescencyjna spektrometria rentgenowska (XRF) jest techniką analityczną wykorzystującą charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie emitowane przez pierwiastki w wyniku wzbudzenia promieniowaniem rentgenowskim o wyższej energii z zakresu fal 10(-9) - 10(-15).

Słowa kluczowe

fluoescencyjna spektrometria rentgenowska XRF analiza jakościowa analiza ilościowa

X-rays fluorescence spectrometry XRF qualitative analysis quantitative analysis

Wydawca

Czasopismo

LAB Laboratoria, Aparatura, Badania

Rocznik

2003

Tom

R. 8, nr 5

Strony

34-36

Opis fizyczny

Twórcy

autor

Mzyk, Z.

Instytut Metalii Nieżelaznych, Zakład Chemii Analitycznej

autor

Mzyk, J.

Instytut Metalii Nieżelaznych, Zakład Chemii Analitycznej

Bibliografia

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikatory

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-LOD7-0011-0049