Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
Ekstrakcja narysowanej topografii w celu otrzymania schematu jest niezbędnym elementem projektowania układu VLSI. Poniższy tekst prezentuje w jaki sposób ekstraktor może odnajdywać elementy na topografii i w jaki sposób obliczane są wartości ich parametrów. Przedstawiono również porównanie działania ekstraktorów zawartych w pakietach Cadence i Microwind i ekstraktora Ekstrakt6 będącego częścia pracy magisterskiej autora [1].
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
19-25
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz., wykr.
Twórcy
autor
- Politechnika Łódzka. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych
autor
- Politechnika Łódzka. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych
Bibliografia
- 1. Kamiński M. „Ekstrakcja schematu elektrycznego z topografii układu VLSI” - praca dyplomowa magisterska - Politechnika Łódzka 2002
- 2. Kao W.H.; Chi-Yuan Lo, Basel M., Singh R., „Parasitic extraction: current state of the art and future” Procedings of the IEEE May 2001 (729 - 739).
- 3. Napieralska M.; Jabłoński G.; Sicard E., „Podstawy mikroelektroniki” Politechnika Łódzka DMCS Łódź 2000.
- 4. Porębski J., Korohoda P. „SPICE. Program analizy nieliniowej układów elektronicznych” Warszawa WNT 1992, 1996.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-LOD6-0003-0037