Pomiar twardości białej warstwy z wykorzystaniem SEM i nanoindentera

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Czasopismo

LAB Laboratoria, Aparatura, Badania

2005 | R. 10, nr 2 | 30-32

Tytuł artykułu

Autorzy

Jóźwiak, K.

Warianty tytułu

Języki publikacji

Abstrakty

Słowa kluczowe

nanoindenter elektronowy mikroskop skaningowy biała warstwa pomiar twardości

nanoindenter scaning electron microscope white layer hardnes measurements

Wydawca

Czasopismo

Rocznik

2005

Tom

R. 10, nr 2

Strony

30-32

Opis fizyczny

Twórcy

autor

Jóźwiak, K.

Politechnika Poznańska, Instytut Inżynierii Materiałowej, Karol.Jozwiak@put.poznan.pl

Bibliografia

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikatory

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-LOD3-0007-0015