Komputerowe systemy pomiarowe w badaniach właściwości materiałów

• Autorzy: Rymaszewski, J. , Pawlak, R. , Lebioda, M. , Tomczyk, M.

Warianty tytułu

EN

The computer measurement systems for investigations of the properties of materials

• Konferencja: Międzynarodowa Konferencja Metrologów MKM 2001 (XXXIII ; 10-13.09.2001 ; Łódź-Arturówek, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zaprezentowano komputerowe systemy pomiarowo - kontrolne wykorzystywane w badaniach właściwości materiałów elektrotechnicznych. Trzy spośród nich zostały zrealizowane na potrzeby pomiarów parametrów elektrycznych materiałów. Czwarty system służy do ilościowej analizy obrazów i wykorzystywany jest w badaniach struktury materiałów.

EN

The computer control-measurement systems have been presented in this paper. These systems are used in investigations of the properties of electrical materials. Three systems were achieved for the measurement of electrical properties of materials. The fourth system was achieved for quantity image analysis and it is used in investigations of materials microstructure.

Słowa kluczowe

PL

systemy pomiarowe; systemy komputerowe; właściwości materiałów; materiały elektrotechniczne

EN

measuring systems; computer systems; properties of materials; electrical materials

• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 2001
• Tom: z. 98
• Strony: 419-428
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz.

Twórcy

autor

Rymaszewski, J.

• Politechnika Łódzka, Zakład Materiałoznawstwa i Elektrotechnologii Instytutu Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa, 90-924 Łódź, ul. Stefanowskiego 18/22,

autor

Pawlak, R.

• Politechnika Łódzka, Zakład Materiałoznawstwa i Elektrotechnologii Instytutu Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa, 90-924 Łódź, ul. Stefanowskiego 18/22

autor

Lebioda, M.

• Politechnika Łódzka, Zakład Materiałoznawstwa i Elektrotechnologii Instytutu Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa, 90-924 Łódź, ul. Stefanowskiego 18/22

autor

Tomczyk, M.

• Politechnika Łódzka, Zakład Materiałoznawstwa i Elektrotechnologii Instytutu Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa, 90-924 Łódź, ul. Stefanowskiego 18/22

Bibliografia

• [1] Siciński Z., Badanie materiałów elektroizolacyjnych, WNT, Warszawa, 1968.
• [2] Wojciechowski K.: Rozpoznawanie obrazów. Wyd. Politechniki Śląskiej, 1987.
• [3] Model 6514 System Electrometer. Instruction manual, Keithley Instruments, Inc., 1998.
• [4] IEEE-488 Interface Boards. User’s Manual, Keithley Instruments, Inc., 1998.
• [5] HP 34420A Nano Volt/Micro Ohm Meter. User’s Guide, Hewlett-Packard Co., 1994.
• [6] HP 34401A Multimeter. User’s Guide, Hewlett-Packard Co., 1996.
• [7] SMI500-Series DC Power Supplies, Delta Elektronika BV, 1998.
• [8] DAS-1200 Series. User’s Guide, Keithley Instruments, Inc., 1994.
• [9] Szala J.: Met-ilo. Polit. Śląska, Katedra Nauki o Materiałach, 1999.