Czasopismo
Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
The examination of measurement channel equipped with ADC - the IEEE-STD-1057 and IEEE-STD-1241 standards and on-line estimation of measurement channel features
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule omówiono syntetycznie metody testowania przetworników ADC zalecane w standardach IEEE-STD-1057 i IEEE-STD-1241 oraz zakres stosowalności standardów do oceny właściwości ADC na etapie użytkowania przyrządu. Przedstawiono rozważania na temat możliwości stosowania metod i układów testowych zalecanych w standardach w warunkach użytkowania przyrządu. Znajomość rzeczywistych charakterystyk przetwarzania i zakłóceń występujących w warunkach użytkowania umożliwia ocenę dokładności procesu pomiarowego. Przedstawiono propozycję metodyki badań właściwości torów pomiarowych z układami ADC w warunkach eksploatacyjnych, ukierunkowanych na ocenę dokładnościową wyników pomiarowych oraz przykładową realizację procedur testowych w przyrządzie wirtualnym.
In paper, the methods of testing of the ADC recommended at standards IEEE-STD-1057 and IEEE-STD-1241 are synthetically discussed as well as the applicability of standards to the estimation of ADC quality in instrument operation condition. Some consideration concerning the applicability of the test methods and circuits recommended in standards to the instrument operation condition are presented. The knowledge of the actual instrument characteristics and the disturbances present in instrument operation condition enable the estimation of measurement process accuracy. The proposal of measurement channel equipped with ADC quality testing in operation condition pointed to accuracy estimation as well as the exemplary implementation of test procedures in virtual instrument are presented.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
36-45
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
Bibliografia
- 1. Arpaia P., Schumny H., International standardization of ADC-base measuring systems - state of art, Computer Standards & Interfaces 19, Elsevier, 1998.
- 2. Cruz Serra A., Alegria F., Martins M., Fonseca da Silva M., Analog-to-digital converter testing -newproposals, Computer Standards & Interfaces 26, Elsevier, pp. 3-13, 2003.
- 3. IEEE 1057-1994, Standard for Digitizing Waveform Recorders, 1994.
- 4. IEEE Std 1241-2000, IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Analog-to-Digital Converters, IEEE, NY, 2001.
- 5. Maśnicki R., The Adaptational Procedures Applied in Microprocessor Measurement Channel, IMEKO Proceedings, Jurata, Poland, vol. 1, pp. 114-117, 2005.
- 6. Maśnicki R., Mindykowski J., An uncertainty as a component of the measurement result of the microprocessor instruments, IMEKO Proceedings, Athens, Greece, vol. 2, pp. 644-649, 2004.
- 7. Maśnicki R., Mindykowski J., Measurement Accuracy Assessment in Ship Applied Instrumentation, IMEKO Proceedings, Jurata, Poland, vol. 1, pp. 87-90, 2005.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWM6-0008-0036