Testing environments for mixed signal chips based on PLD devices

• Autorzy: Śniatała, P. , Pierzchlewski, J. , Handkiewicz, A. , Nowakowski, B.

Warianty tytułu

PL

System testowania, specjalizowanych obwodów scalonych wykorzystujący programowalne układy PLD

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

This paper presents original testing boards dedicated for SI ASIC chips. The boards are designed based on programmable logic devices, which generate the required signals for the tested chip and make necessary postprocessing of the output data. Simple interface was included on the boards to make them standalone, user friendly testing environments. The parameters of the signals are set with this simple interface. The project was written in a VHDL and implemented in Xilinx devices. The boards were used to test a new structure of a SI integrator and delta-sigma modulator built based on the SI blocks.

PL

Artykuł zawiera propozycje środowiska testowego dedykowane do mieszanych układów ASIC. Wykorzystanie środowiska zilustrowano na przykładzie prototypowego układu scalonego zawierającego moduły wykonane w technice przełączanych prądów (SI). System oparto na układach programowalnych (CPLD i FPGA). Układy te wykorzystano do generacji niezbędnych sygnałów źródłowych i sterujących oraz do dodatkowego przetwarzania danych wyjściowych. Na płycie sterującej umieszczono również prosty interfejs z użytkownikiem, który pozwala na zmianę parametrów sygnałów testujących. Projekt opisano w języku VHDL i zaimplementowano w układach firmy Xilinx. Opracowane systemy posłużyły do testowania prototypu układu integratora oraz modulatora sigma-delta wykonanych w technice SI.

Słowa kluczowe

PL

SI; PLD; testowanie

EN

SI; PLD; testing

• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2007
• Tom: Vol. 48, nr 10
• Strony: 22-26
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., il., wykr.

Twórcy

autor

Śniatała, P.

autor

Pierzchlewski, J.

autor

Handkiewicz, A.

autor

Nowakowski, B.

• Poznań University of Technology, Poland

Bibliografia

• [1] Śniatała P., Botha A.: A/D Converter Based on a New Memory Cell Implemented using the Switched Current Technique. Microelectronics Reliability, vol. 44, 2004, pp. 861-867.
• [2] Balkir S., Dundar G., Ogrenci A.: Analog VLSI Design Automation, CRC Press, 2003
• [3] Cheng-Ping Wang, Chin-Long Wey: Test generation of analog switched-current circuits, Proceedings of the Fifth Asian 20-22 Nov. 1996 pp. 276-281.
• [4] Van der Pias G., Gielen G., Sansen W.: A Computer-Aided Design and Synthesis Environment for Analog Integrated Circuits, Kluwer 2002.
• [5] Handkiewicz A.: Mixed-Signal Systems - A Guide to CMOS Circuit Design, Wiley-Interscience 2002.
• [6] Tan N.: Switched-Current Design and Implementation of Over-sampling A/D Converters. Kluwer Academic Publishers 1997.
• [7] Handkiewicz A., Śniatała P., Łukowiak M., Kropidłowski M.: Properties of Bilinear SI Integrators Composed of a Complementary Memory Cell, Journal of Electron Technology, vol. 32-3, pp. 247-250, 1999.
• [8] Loulou M., Dallet D., Marchegay P.: A 3.3V Switched-Current Second Order Sigma-Delta Modulator for Audio Application, Proc. In IEEE, ISCAS 2000, pp. VI. 409-412 May 2000, Geneva, Switzerland.
• [9] Northworthy S. R., Schreier R., Temes G. C., Eds.: "Delta Sigma Data Converters", Piscataway, NJ, IEEE Press 1996.
• [10] Rajput S. S., Jamuar S. S.: "Low voltage, low power, high performance current mirror for portable analogue and mixed mode applications", Circuits Devices and Systems, IEE Proc. vol. 148, issue 5, pp. 273-278, Oct. 2001.