Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2007 | Vol. 48, nr 9 | 9-12
Tytuł artykułu

Novel applications of noise measurements in technology and sensing

Autorzy
Warianty tytułu
PL
Nowe zastosowania pomiarów szumów w technologii i wykrywaniu gazów
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Noise measurements are promising tool to provide information and nondestructive characterization of electronic components and other objects (noise spectroscopy). Noise data can improve selectivity and sensibility of gas detection (electronic nose) or monitor corrosion phenomena. As the main diagnostic tool it is proposed to use low frequency current and voltage fluctuations and their statistical properties. Some selected results of noise measurements have been discussed in the paper due to their practical importance.
PL
Pomiary szumów są źródłem informacji oraz rodzajem badań nieniszczących dotyczących jakości elementów elektronicznych oraz innych materiałów. Mogą one poprawić selektywność i czułość wykrywania gazów oraz pozwalają na monitorowanie zjawiska korozji. W tym celu wyznacza się właściwości statystyczne fluktuacji prądu lub napięcia w zakresie małych częstotliwości. W artykule przedstawiono i przedyskutowano wybrane, ze względu na ich znaczenie w praktyce, wyniki pomiarów sygnałów losowych.
Wydawca

Rocznik
Strony
9-12
Opis fizyczny
Bibliogr. 14 poz., wykr.
Twórcy
autor
autor
  • Gdańsk University of Technology, Faculty ETI, Department of Optoelectronics and Electronic Systems
Bibliografia
  • [1] Kish L. B., Vajtai R., Granqvist C. G.: Extracting information from noise spectra of chemical sensors: single sensor electronic noses and tongues. Sensors and Actuators B, vol. 71, no. 1-2, Nov. 2000, pp. 55-59.
  • [2] Smulko J.: The measurement setup for gas detection by resistance fluctuations of gas sensors. Proc. IMTC 2006 Instrumentation and Measurement Technology Conference, Sorrento, Italy, 24-27 April 2006, pp. 2028-2031.
  • [3] Mendel J. M.: Tutorial on higher-order statistics (spectra) in signal processing and system theory: theoretical results and some applications. Proc. IEEE, vol. 79, no. 3, March 1991, pp. 278-305.
  • [4] Smulko J., Granqvist C. G. Kish L.: On the statistical analysis of noise in chemical sensors and its application for sensing. Fluctuation and Noise Letters, vol. 1, No. 3, 2001, pp. 147-153.
  • [5] Schmera G., Kish L. B., Smulko J.: Method of Pattern Generation for Gas Recognition, Patent pending, USA, Navy Case #96130 (March 2004).
  • [6] Ederth J., Smulko J., Kish L., Heszler P., Granqvist C.: Comparson of classical and fluctuation-enhanced gas sensing with Pdx-WO3 nanoparticle films. Sensors & Actuators B, vol. 113, 2005, pp. 310-315.
  • [7] Smulko J.: Problemy pomiarów i analizy szumów elektrochemicznych. Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej, Monografie 77, Gdańsk 2006.
  • [8] Smulko J., Darowicki K., Zieliński A.: On electrochemical noise analysis for monitoring of uniform corrosion rate, IEEE Trans. Instr. Meas., 2007, accepted for publication.
  • [9] Smulko J.: Methods of electrochemical noise analysis for investigation of corrosion processes. Fluctuation and Noise Letters, vol. 6, no.2, 2006, pp. R1-R9.
  • [10] Smulko J., Kish L. B.: Higher-order statistics for fluctuation-enhanced gas sensing. Sensors and Materials, vol. 16, 2004, pp. 291-299.
  • [11] Smulko J., Darowicki K., Zieliński A.: Evaluation of reinforcement corrosion rate in concrete structures by electrochemical noise measurements. Russ. J. of Electrochem., vol. 42, 2006, pp. 548-552.
  • [12] Chobola Z., Hasse L., Spiralski L.: 1/f noise as a diagnostic tool for non-destructive testing of silicon solar cells. Elektronika, t. 47, nr 1, 2006, pp. 48-49.
  • [13] Vanek J., Chobola Z., Hasse L.: Effect of illumination on noise of silicon solar cells. Elektronika, t. 45, nr 5, 2004, pp. 16-17.
  • [14] Spiralski L., Hasse L., Šikula J., Ćwilewicz R.: Nondestructive investigations of materials and mechanical objects by means of the random phenomena analysis, Proc. Conf. Physics and Materials Science, May 27-30, 2001, Vienna, pp. 86-93.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWAP-0004-0001
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.