Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2008 | Vol. 49, nr 1 | 16-17
Tytuł artykułu

Badania nad źródłami domieszek o dużej zawartości fosforu, stosowanymi w technologii wytwarzania krzemowych ogniw słonecznych

Warianty tytułu
EN
Investigation on high doped phosphorus sources in silicon solar cells technology
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Przedstawiono fragment badań prowadzonych nad modyfikacją procesów wytwarzania ogniw słonecznych. Wytwarzanie warstwy emiterowej w procesie domieszkowania dyfuzyjnego w stosunkowo krótkim czasie jest istotne w produkcji masowej. Proces ten wymaga nowych źródeł, zawierających wysoką koncentrację atomów fosforu (jako związek zawierający atomy fosforu wykorzystuje się kwas ortofosforowy). Jako płytki podłożowe stosuje się płytki krzemowe typu p. Artykuł prezentuje metodę domieszkowania krzemu z wykorzystaniem rozwirowywanych źródeł fosforowych
EN
The paper presents a fragment of investigation studies carried out on the modification of silicon solar cell production technology. Doping of the emitter layer is the basic procedure in the technology of solar cell production. Today the research studies have been concentrated on short time diffusion processes, what is very important in mass production. This process requires a new type of dopant sources, which contains high concentration of phosphorus atoms. Silicon wafers of the p-type conductivity have applied as substrates in the investigation studies. A solution prepared on the basis of orthophosphoric acid have been used as donor source. This article have been presented the method of doping silicon with phosphorus sources (spin-on method).
Wydawca

Rocznik
Strony
16-17
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz., tab., wykr.
Twórcy
autor
  • Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, Gliwice
Bibliografia
  • [1] Green M. A.: Crystalline Silicon Solar Cells. University of New South Wales, Sydney, 2001.
  • [2] Waczyński K., Krompiec S., Matysek-Majewska D.: Badania nad zastosowaniem szkliw domieszkowanych borem i fosforem w technologii półprzewodników krzemowych. Zeszyty Naukowe Politechniki Śląskiej, zeszyt 129, Gliwice 1993.
  • [3] Runyan W. R., Shaffner T. J.: Semiconductor Measurements and Instrumentation. McGraw-Hill, New York 1998.
  • [4] Praca zbiorowa, Procesy technologiczne w elektronice półprzewodnikowej. WNT, Warszawa, 1980.
  • [5] Wróbel E.: Analiza procesów dyfuzji planarnej w półprzewodnikach z wybranych źródeł domieszek. Praca Doktorska, Politechnika Śląska, Gliwice, 2001.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWAH-0006-0002
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.