Warianty tytułu
SKOKI software for electrothermal analysis of electronics networks with the use of the separated iterations method
Języki publikacji
Abstrakty
W pracy przedstawiono opracowany przez autorów program SKOKI do elektrotermicznej analizy układów elektronicznych metodą rozdzielonych iteracji. Program ten umożliwia wykorzystanie w analizie elektrotermicznej w charakterze modeli elektrycznych - modeli elementów półprzewodnikowych wbudowanych w program SPICE lub oferowanych przez producentów makromodeli elementów półprzewodnikowych i układów scalonych. Program realizuje zarówno elektrotermiczną analizę stałoprądową, jak i elektrotermiczną analizę stanów przejściowych. W poszczególnych rozdziałach pracy opisano zastosowany algorytm obliczeń oraz sposób formułowania plików wejściowych dla programu SKOKI przy realizacji poszczególnych rodzajów analiz, a także przykładowe wyniki obliczeń.
In the paper, the elaborated by the authors SKOKI software for electrothermal analysis of electronics networks with the use of the separated iterations method, is presented. This software makes possible to use models of semiconductor devices built-in in SPICE software, as well as macro-models of semiconductor devices and integrated circuits elaborated by its producers, as electrical models in the electrothermal analysis. SKOKI software realises dc electrothermal analysis and transient electrothermal analysis. In particular sections of the paper, the used algorithms of calculations, the method of formulation the input files for SKOKI software for both the considered types of analysis, as well as some results of calculations are described.
Rocznik
Tom
Strony
67-69
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz., il., wykr.
Twórcy
autor
autor
autor
- Akademia Morska w Gdyni, Katedra Elektroniki Morskiej
Bibliografia
- [1] Zarębski J.: Modelowanie, symulacja i pomiary przebiegów elektrotermicznych w elementach półprzewodnikowych i układach elektronicznych. Prace Naukowe Wyższej Szkoły Morskiej w Gdyni, Gdynia, 1996.
- [2] Petegem W., Geeraerts B., Sansen W., Graindourze B.: Electrothermal Simulation and Design of Integrated Circuits. IEEE J. Of Sol.-St. Circ, Vol. 29, No. 2, 1994, p. 143.
- [3] Petegem W., Wachter D., Sansen W.: Electrothermal Simulation of Integrated Circuits. 6-th IEEE SEMI-THERM, Phoenix 1990, p. 70.
- [4] Zarębski J., Górecki K.: The Electrothermal Model of the Linear Power Supplies. The 2003 IEEE International Symposium on Circuits and Systems ISCAS 2003, Bangkok, 2003, Vol. I, p. 369.
- [5] Zarębski J., Górecki K.: Nowy algorytm wyznaczania nieizotermicznych charakterystyk dynamicznych elementów półprzewodnikowych w programie SPICE. Kwartalnik Elektroniki i Telekomunikacji, t. 47, Nr 4, 2001, s. 525.
- [6] Zarębski J., Górecki K.: Analiza wpływu samonagrzewania na charakterystyki dławikowych przetwornic dc-dc. Elektronika, Not-Sigma, Warszawa, Nr 2-3, 2003, s. 24.
- [7] http://www.am.gdynia.pl/-gorecki
- [8] Zarębski J.: The Time Dependence Calculations of the Junction Temperature of Semiconductor Devices. International Journal of Microcomputer Applications, Vol. 13, No 2, June 1994, p. 62.
- [9] Górecki K., Zarębski J.: Badanie właściwości wybranych algorytmów splotowych do analizy termicznej układów elektronicznych. Kwartalnik Elektroniki i Telekomunikacji, t. 46, z. 4, 2000, s. 633.
- [10] Górecki K., Zarębski J.: Nowy algorytm wyznaczania mocy czynnej tranzystora MOS w programie SPICE. Kwartalnik Elektroniki i Telekomunikacji, t. 47, Nr 3, 2001, s. 377.
- [11] Zimny P., Karwowski K.: SPICE klucz do elektrotechniki. Instrukcja, program, przykłady. Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej, Gdańsk, 1996.
- [12] Górecki K.: Modelowanie i analiza obcowzbudnych stabilizatorów impulsowych zawierających dławikowe przetwornice dc-dc z uwzględnieniem samonagrzewania. Prace Naukowe Akademii Morskiej w Gdyni, Gdynia, 2007.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWAD-0023-0019