Shape of increasing pulse leading egde in the time domain as a determinant of its spectrum

• Autorzy: Ruszel, P.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

This paper focuses in short on results analysis related to influence of the pulse leading edge shape of the voltage signal, determined in the time domain, on the shape of the envelope of its image in the frequency domain. Emphasis has been put on the possibilities of limiting the spectral lines contents of the signal frequency spectrum in the range of high frequencies and the possibilities of their level diminishing. Additionally, the paper describes a method of "constructing (shaping) test signal" which application enabled measurement of spectrum of a chosen active state of a tested electric switch.

PL

Zaprezentowano w skrócie wyniki analizy wpływu kształtu czoła sygnału impulsu napięcia, określonego w dziedzinie czasu, na kształt obwiedni jego obrazu w dziedzinie częstotliwości. Zwrócono uwagę na możliwość ograniczenia zawartości składowych widma częstotliwości sygnału w zakresie wielkich częstotliwości oraz zmniejszenia ich poziomu, jak również wskazano na jeden ze sposobów osiągnięcia tego celu.

Słowa kluczowe

PL

kompatybilność elektromagnetyczna; widmo sygnału; sygnał testujący

EN

electromagnetic compatibility; test signal; spectrum of signal

• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 49, nr 2
• Strony: 42-44
• Opis fizyczny: Bibliogr, 4 poz., wykr.

Twórcy

autor

Ruszel, P.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Bibliografia

• [1] Hotownia J.: Zakłócenia generowane w najprostszych obwodach z kluczem elektrycznym. Archiwum Elektrotechniki, tom XXV, z. 3, 1976, ss. 703-717.
• [2] Hotownia J.: A State Space Analysis Example of Transient Nosie Generation in Electrical Circuits. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. EMC-18, no 3, August 1976, pp. 97-105.
• [3] Ruszel R.: Wybrane problemy z zakresu pomiaru widma częstotliwości. Elektronika, nr 3, 2006, ss. 40-43.
• [4] Ruszel R.: Pomiar i modelowanie właściwości źródeł szerokopasmowych zakłóceń elektromagnetycznych. Elektronika, nr 2, 2006, ss. 18-23.