Gaussianity evaluation of noise in RuO2-glass resistors

• Autorzy: Stadler, A. W. , Kolek, A. , Zawiślak, Z. , Mleczko, K. , Żak, D. , Ptak, P. , Szałański, P.

Warianty tytułu

PL

Badanie stacjonarności szumu w rezystorach RuO2-szkło

• Konferencja: International Conference of IMAPS Poland Chapter (30 ; 24-27.09.2006 ; Kraków, Poland)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Low-frequency noise in thick-film resistors of RuO2 and glass mixture study in temperature below 2 K has been described. Second spectra method has been used to test gaussianity of the measured noise. Possibility of nongaussianity in observed 1/f noise has been found at lowest temperature in experiment, T= 0.37 K.

PL

Opisano badania szumu w zakresie małych częstotliwości w rezystorach RuO2-szkło w temperaturze poniżej 2 K. Zastosowano metodę widm drugiego rzędu do określenia cech gaussowskich zmierzonego szumu 1/f. Wykryto niestacjonarność szumu w najniższej temperaturze uzyskanej podczas eksperymentu, T= 0,37 K.

Słowa kluczowe

PL

dwutlenek rutenu; szumy w zakresie małych częstotliwości; szum 1/f; szum gaussowski

EN

RuO2; thick-film resistors; low-frequency noise; 1/f noise; Gaussian noise

• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 47, nr 12
• Strony: 31-33
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., wykr.

Twórcy

autor

Stadler, A. W.

autor

Kolek, A.

autor

Zawiślak, Z.

autor

Mleczko, K.

autor

Żak, D.

autor

Ptak, P.

autor

Szałański, P.

• Politechnika Rzeszowska, Katedra Podstaw Elektroniki, Rzeszów

Bibliografia

• [1] Ptak P., Kolek A., Zawiślak Z., Stadler A., Mleczko K.: Noise resolution of RuO2-based resistance thermometers. Review of Scientific Intruments, 014901, 2005.
• [2] Kolek A.: Szumy niskoczęstotliwościowe - metody badań eksperymentalnych. Oficyna Wydawnicza Pol. Rzeszowskiej, 2006.
• [3] Scofield J. H.: Ac method for measuring low-frequency resistance fluctuation spectra. Review of Scientific Intruments, 58 (1987) 987.