Mikroskopia sił "shear force" w badaniu topografii i właściwości emisyjnych powierzchni

• Autorzy: Sikora, A. , Gotszalk, T. , Szeloch, R.

Warianty tytułu

EN

Non-contact AFM microscopy in local electrical material properties investigation

• Konferencja: Technologia elektronowa : ELTE' 2004 : konferencja naukowa (8 ; 19-22.04.2004 ; Stare Jabłonki, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono modularny mikroskop bliskich oddziaływań "shear force" i tunelowy, umożliwiający lokalne badanie topografii oraz właściwości emisyjnych z powierzchni. Zaprezentowano przykładowe wyniki pomiarów.

EN

In this article a modular near field-shear force microscope combined with tunneling microscope. Presented setup can be used for local electrical surface properties investigation. Some measurements results will be presented.

Słowa kluczowe

PL

AFM; shear force; mikroskopia tunelowa; emisja polowa

EN

AFM; shear force; tunneling microscopy; field emission

• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2005
• Tom: Vol. 46, nr 2-3
• Strony: 67-68
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., il.

Twórcy

autor

Sikora, A.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Gotszalk, T.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Szeloch, R.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

Bibliografia

• [1] Planes J., Houze F., Chretien P., Schneegans O., Appl. Phys. Lett. 79 (18), 2993 (2001).
• [2] Van der Weide D. W., Neuzil P., Vac J.: Sci. Technol. В 14 (6), 4144 (1996).
• [3] O’Boyle M.P., Hwang T.T., Wickramasinghe H.K.: Appl. Phys. Lett. 74 (18), 2641 (1999).
• [4] Gotszalk T., Pędrak R., Sankowska A., Radojewski J., Grabiec P.: Materiały VII Konferencji Naukowej ELTE 2000, 1247.
• [5] Sankowska A., Sikora A., Gotszalk T.: Materiały IX Konferencji Naukowej TAL 2003, 752.