Warianty tytułu
Thin film sensor for the measurement of material thermal parameters
Konferencja
Technologia elektronowa : ELTE' 2004 : konferencja naukowa (8 ; 19-22.04.2004 ; Stare Jabłonki, Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
Zaprezentowano metodę i wyniki pomiarów parametrów cieplnych różnych materiałów. Metoda ta umożliwia wykonanie pomiarów, gdy istnieją kontaktowe opory cieplne. Parametry cieplne określane są na podstawie charakterystyki częstotliwościowej czujnika.
The analysis, methods and measurement results of thermal parameters of different materials have been presented. The applied method enables the measurement in spite of presence of significant thermal contact resistance. Thermal parameters have been assessed from the frequency characteristics of the sensor.
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
39-40
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz., wykr.
Twórcy
autor
- Politechnika Warszawska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
autor
- Politechnika Warszawska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Bibliografia
- [1] Irace A., Sarro P. M.: Measurement of thermal conductivity and diffusivity of single and multilayer membranes, Sensors and Actuators A 76, 323-328, 1999.
- [2] Ziang X., Grigoropoulos С. P.: Thermal conductivity and diffusivity of free standing silicon nitride thin films, Rev. Sci. Instrum. 66 (2), 1115-1120, 1995.
- [3] Hatta L, Sasuga Y., Kato R., Moesono A.: Thermal diffusivity measurement of thin films by of an ac calorimetric method, Rev. Sci. Instrum, 1985.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWA2-0014-0055