Warianty tytułu
Automation of test points insertion in digital circuit
Konferencja
Technologia elektronowa : ELTE' 2004 : konferencja naukowa (8 ; 19-22.04.2004 ; Stare Jabłonki, Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule zaprezentowano metodę wstawiania punktów testowych w modelu VHDL układu cyfrowego. Opracowane zostały dwie aplikacje. W pierwszej z nich zaimplementowano algorytm automatyzacji wstawiania punktów testowych. Druga aplikacja zawiera obliczenia parametrów, takich jak np. pokrycie uszkodzeń, będące podstawą oceny efektywności wstawienia punktów testowych do układu.
In this work a method of automation of test points insertion in VHDL model was elaborated. Two applications were written. In the first one an algorithm of automation of test points insertion was implemented. The second application calculates the efficiency factors of test points insertion, such as fault coverage.
Rocznik
Tom
Strony
32-35
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz.
Twórcy
autor
- Politechnika Warszawska, Instytut Mikroelektronniki i Optoelektroniki
autor
- Politechnika Warszawska, Instytut Mikroelektronniki i Optoelektroniki
Bibliografia
- 1. Boubezari S., Kamińska B., Nadeau-Dostie B.: IEEE Transactions on Computer Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 18, no. 9, 1999.
- 2. Kraśniewski A.: Projektowanie samotestowalnych układów cyfrowych wielkiej skali integracji. WPW, Elektronika, z. 83, 1989.
- 3. Kraśniewski A.: Materiały dydaktyczne do przedmiotu PWSC.
- 4. De Micheli G.: Synteza i optymalizacja układów cyfrowych. WNT, Warszawa, 1998.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWA2-0014-0050