Wzmacniacz fazoczuły typu lock-in do zastosowań w mikroskopii bliskich oddziaływań

• Autorzy: Kopiec, D. , Woszczyna, M. , Gotszalk, T. , Woźniak, K. , Zawierucha, P. , Sojka, K.

Warianty tytułu

EN

Lock-in amplifier for scanning probe microscopy applications

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono zasadę działania oraz konstrukcję wzmacniacza fazoczułego typu lock-in mogącego pracować w trybie dwukanałowym bądź w trybie woltomierza wektorowego. Zaprezentowano zastosowanie opisywanego wzmacniacza w technice mikroskopii bliskich oddziaływań, gdzie obserwacja amplitudy oraz przesunięcia fazowego odpowiedzi sondy ma istotne znaczenie w wysokorozdzielczych badaniach lokalnych właściwości powierzchni preparatu.

EN

In this article design of the two-channel lock-in amplifier is presented. The presented device has implemented four DDS generators and two phase-sensitive detectors. Lock-in amplifier is controlled from PC computer via RS232 interface. This lock-in amplifier is applied in scanning probe microscopy techniques where amplitude and phase resolving is important in obtaining information about local surface properties.

Słowa kluczowe

PL

wzmacniacz fazoczuły; lock-in; mikroskopia bliskich oddziaływań; generator DDS

EN

phase sensitive detector; lock-in; scanning probe microscopy; DDS generator

• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2010
• Tom: Vol. 51, nr 1
• Strony: 88-91
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., il., wykr.

Twórcy

autor

Kopiec, D.

autor

Woszczyna, M.

autor

Gotszalk, T.

autor

Woźniak, K.

autor

Zawierucha, P.

autor

Sojka, K.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

Bibliografia

• [1] Proksch R.: Multifrequency, repulsive-mode amplitude-modulated atomic force microscopy. Applied Physics Letters 89, 2006, 113121.
• [2] Woźniak K., Kolanek K., Gotszalk T., Woszczyna M., Sikora A., Świątkowski M., Gruca G.: Precyzyjny, wysokorozdzielczy, cyfrowy generator sygnałowy zintegrowany z selektywnym detektorem wartości skutecznej. KKE 2007, materiały konferencyjne ss. 243-248.
• [3] Woszczyna M., Gotszalk T., Zawierucha P., Zielony M.: Zastosowanie detektorów przesunięcia fazowego do pomiarów bliskich oddziaływań w mikroskopii sił atomowych. KKE 2006, materiały konferencyjne ss. 335-340.
• [4] Sonnaillon M. O., Bonetto F. J.: A low-cost, high-performance, digital signal processor-based lock-in amplifier capable of measuring multiple frequency sweeps simultaneously. Rev. Sci. Instrum. 76, 2005, 024703.
• [5] Woszczyna M., Masalska A., Kolanek K., Gotszalk T., Szeloch R.: Wejściowe układy elektroniczne współpracujące z mikrosystemowymi piezoelektrycznymi czujnikami nanosił i nanowychyleń. Elektronika 11/2005.