Surface photovoltage spectroscopy system for "in situ" studies of metal phthalocyanine thin films

• Autorzy: Bilski, M. , Kaszczyszyn, S. , Grządziel, L. , Adamowicz, B. , Szuber, J.
• Konferencja: International Seminar on Semiconductor Gas Sensors : SGS' 98 (1 ; 22-25.09.1998 ; Ustroń, Poland)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The exprimental system for in situ determination of the electronic properties of metal phthalocyanine thin films by surface photovoltage spectroscopy (SPS) is described. The preliminary results of in situ studies of the electronic properties of the space charge layer of the freshly evaporated copper phthalocyanine (CuPc) thin films are presented.

• Czasopismo: Electron Technology
• Rocznik: 2000
• Tom: Vol. 33, No. 1/2
• Strony: 289-29
• Opis fizyczny: Bibliogr. 19 poz.

Twórcy

autor

Bilski, M.

autor

Kaszczyszyn, S.

autor

Grządziel, L.

autor

Adamowicz, B.

autor

Szuber, J.

• Departament of Semiconductor Surfaces Physics, Institute of Physics, Silesian Technical University, ul. Krzywoustego 2, 44-100 Gliwice, Poland,