Czasopismo
1998
|
Vol. 7, No. 3
|
565-623
Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
Basic requirements for an automated visual inspection in intelligent SPC-oriented quality assurance systems are discussed. Extensions of feature IE-graphs representing solids in CAD ([62]) to a stochastic model of manufacturing processes are proposed. An efficient random graph language analysis based on parsable ETPL(k) graph grammars([55)] is presented as a tool for intelligent reasoning in high layer modules of automated inspection systems. The first applications of the model are shown.
Słowa kluczowe
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
565-623
Opis fizyczny
Bibliogr. 77 poz.
Twórcy
autor
autor
- Institute of Computer Science, Jagiellonian University, Cracow, Poland
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWA1-0001-0091