Department of Integrated Circuits' and Systems' Design

• Autorzy: Szynka, J.
• Języki publikacji: EN

Słowa kluczowe

PL

Instytut Technologii Elektronowej; działalność naukowo-badawcza

EN

Institute of Electron Technology; scientific activity

• Czasopismo: Prace Instytutu Technologii Elektronowej
• Rocznik: 2007
• Tom: z. 1/2
• Strony: 129-138
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., wykr.

Twórcy

autor

Szynka, J.

• Institute of Electron Technology, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warsaw, Poland,

Bibliografia

• [P1] BULGHERONI A., BADANO L., CACCIA M., DOMAŃSKI K., GRABIEC P., GRODNER M., JAROSZEWICZ B., KOCIUBIŃSKI A., KUCHARSKI K., MARCZEWSKI J., TOMASZEWSKI D., ZALEWSKA A.: Silicon Ultra Fast Cameras for Electron and y Sources in Medical Applications: a Progress Report. Nucl. Phys. B - Proc. Suppl. 2006 vol. 150 p. 308-312.
• [P2] CACCIA M., BADANO L., BERST D., DOMAŃSKI K., GRABIEC P., GRODNER M., JAROSZEWICZ B., KOCIUBIŃSKI A., KUCHARSKI K., MARCZEWSKI J., TOMASZEWSKI D., ZALEWSKA A.: The SUCIMA Project: A Status Report on High Granularity Dosimetry and Proton Beam Monitoring. Nucl. Instr. & Meth. in Phys. Res. A 2006 vol. 560 p. 153-157.
• [P3] KOŁODZIEJSKI J. F.: Standardization in the Area of Integrated Circuits and Electromagnetic Compatibility. Normalizacja 2006 No. 2 p. 3-7 (in Polish).
• [P4] KOŁODZIEJSKI J. F.: Design and Simulation of Electronic Circuits. Elektronika 2006 No. 12 p. 49-56 (in Polish).
• [P5] KOŁODZIEJSKI J. F.: Design and Simulation of Electronic Circuits. Zesz. Nauk. Politechniki Łódzkiej – Elektryka (submit. to publ., in Polish).
• [P6] MARCZEWSKI J., DOMAŃSKI K., GRABIEC P., GRODNER M., JAROSZEWICZ B., KOCIUBIŃSKI A., KUCHARSKI K., TOMASZEWSKI D., CACCIA M., KUCEWICZ W., NIEMEC H.: Technology Development for SOI Monolithic Pixel Detectors. Nucl. Instr. & Meth. in Phys. Res. A 2006 vol. 560 p. 26-30.
• [P7] PIĄTEK Z., PLESKACZ W. A., KOŁODZIEJSKI J. F.: Transmission Line Pulsing Tester for On-Chip ESD Protection Testing. Proc. 13th Int. Conf. "Mixed Design of Integrated Circuits and Systems" MIXDES’2006, Gdynia, Poland, 22-24.06.2006, p. 595-598.
• [P8] SZYMAŃSKI A., KURJATA-PFITZNER E.: Effects of Package and Process Variation on 2.4 GHz Analog Integrated Circuits. Microelectron.& Reliab. 2006 vol. 46 p. 189-193.
• [C1] DUMANIA P., GRABIEC P., GRODNER M., JAROSZEWICZ B., KOCIUBIŃSKI A., KUCHARSKI K., MALINOWSKI A., MARCZEWSKI J., NIEMEC H., PANAS A., TOMASZEWSKI D., WÓJCIK J., ZABOROWSKI M., ZAJĄC J.: Application and Characterization of CMOS Technology in ITE. 7th Symp. Diagnostics & Yield, Advanced Silicon Devices and Technologies for ULSI Era. Warsaw, Poland, 25-28.06.2006 (poster).
• [C2] JAROSZ A., PFITZNER A.: Interconnection Capacitances Dependence on Further Neighbourhood in the Bus-Experimental Verification of the Model. 13th Int. Conf. "Mixed Design of Integrated Circuits and Systems" MIXDES’2006, Gdynia, Poland, 22-24.06.2006 (poster).
• [C3] PIĄTEK Z., PLESKACZ W.A., KOŁODZIEJSKI J. F.: Transmission Line Pulsing Tester for On-Chip ESD Protection Testing. 13th Int. Conf. "Mixed Design of Integrated Circuits and Systems" MIXDES’2006, Gdynia, Poland, 22-24.06.2006 (paper). Patents'2006
• [PA1] KOŁODZIEJSKI J. F., KUCIŃSKI J.: A Method to Determine the Influence of Electromagnetic Interference on the Operation of Integrated Circuits. Pat. RP No. 192241 (in Polish). Prace Instytutu Technologii Elektronowej, rok: 2007, Zeszyt 1/2