Department of Integrated Circuits' and Systems' Design

• Autorzy: Szynka, J.
• Języki publikacji: EN

Słowa kluczowe

PL

Instytut Technologii Elektronowej; działalność naukowo-badawcza

EN

Institute of Electron Technology; scientific activity

• Czasopismo: Prace Instytutu Technologii Elektronowej
• Rocznik: 2006
• Tom: z. 2
• Strony: 162-177
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Szynka, J.

• Institute of Electron Technology, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warsaw, Poland,

Bibliografia

• [P1] GRODNER M., KLATKA T., KOZIEŁ M., KUCEWICZ W., KUCHARSKI K., MARCZEWSKI J., NIEMIEC H., SAPOR M., SZELEZNIAK M., TOMASZEWSKI D.: CMOS SOI Technology Characterization and Verification of Device Models for Analogue Design. Proc. of the VIII Sci. Conf. "Electron Technology" ELTE 2004. Stare Jabłonki, Poland, 19-22.04.2004. IMiO PW 2005 p. 437-440.
• [P2] KUCHARSKI K., TOMASZEWSKI D., GRODNER M., DUTKIEWICZ W., GRABIEC P., HEJDUK K., KOCIUBIŃSKI A., MALESIŃSKA J., KOKOSZKA A., OBRĘBSKI D., SZYNKA J.: MPW Service for Manufacturing of CMOS ASICs in a National Center of Silicon Micro- and Nano-Technology. Proc. of the VIII Sci. Conf. "Electron Technology" ELTE 2004. Stare Jabłonki, Poland, 19-22.04.2004. IMiO PW 2005 p. 361-364.
• [P3] KURJATA-PFITZNER E., SZYMAŃSKI A.: Features of Analogue Integrated RF Circuits Designing. Elektronika 2005 No. 2-3 p. 51-53 (in Polish).
• [P4] KURJATA-PFITZNER E., SZYMAŃSKI A.: Features of Analogue Integrated RF Circuits Designing. Proc. of the VIII Sci. Conf. "Electron Technology" ELTE 2004. Stare Jabłonki, Poland, 19-22.04.2004. IMiO PW 2005 p. 457-462 (in Polish).
• [P5] MARCZEWSKI J., CACCIA M., DOMAŃSKI K., GRABIEC P., GRODNER M., JAROSZEWICZ B., KLATKA T., KOCIUBIŃSKI A., KOZIEL M., KUCEWICZ W., KUCHARSKI K., TOMASZEWSKI D.: Monolithic Silicon Pixel Detectors in SOI Technology. Nucl. Instr. a. Meth. A 2005 vol. 549 No. 1-3 p. 112-116.
• [P6] SZYMAŃSKI A., KURJATA-PFITZNER E.: Effects of Package and Process Variation on 2.4 GHz Analog Integrated Circuits. Microelectron. Reliab. 2006 vol. 46 p. 189-193.
• [P7] SZYNKA J., GRODNER M., KOKOSZKA A., KURJATA-PFITZNER E., ŁUGOWSKI N., OBRĘBSKI D., SIEKIERSKA K., SZYMAŃSKI A., WĄSOWSKI J.: Department of Integrated Circuits' and Systems' Design. [In] Institute of Electron Technology. Scientific Activity 2004. Prace ITE 2004 No. 1/2 p. 148-161.
• [C1] JAROSZ A., PFITZNER A.: Calibration of the Interconnection Capacitance Models in Hybrid Statistical Simulation of IC's. 12th Int. Conf. "Mixed Design of Integrated Circuits and Systems" MIXDES'2005, Krakow, Poland, 22-25.06.2005.
• [C2] PLIVA Z., NOVAK O., SIEKIERSKA K., GRODNER M.: Test-Access Block, Serial Scan vs. Random Access Scan. 12th Int. Conf. MIXDES'2005, Krakow, Poland, 22-25.06.2005 (commun.).
• [PA1] SZYMAŃSKI A., KURJATA-PFITZNER E., PODMIOTKO W.: Zero-Adjustment Circuit. Pat. Appl. No. P. 332438 (in Polish).