Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
Unikalny w swoim rodzaju optyczny czujnik mikroodchyleń jest nowatorskim rozwiązaniem firmy SICK łączącym funkcje przyrządu pomiarowego i czujnika zbliżeniowego. Zespół jego cech pozwala na spojrzenie z nowej perspektywy na problematykę zautomatyzowania bezdotykowych, precyzyjnych pomiarów odległości, wymiarów, położenia i ich odchyleń.
Słowa kluczowe
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
33-33
Opis fizyczny
rys.
Twórcy
autor
- SICK Sp. z o.o., ul. Nakielska 3, 01-106 Warszawa
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW4-0014-0008
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.