Warianty tytułu
Uncertainity evaluation of measurement result of impedance components in sampling processing circuits
Konferencja
II Sympozjum nt. Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych, Gliwice, 19-20 listopada 2001 r.
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule przedstawiono wybrane algorytmy wyznaczania składowych impedancji w układach z przetwornikiem próbkującym. Opisano wyniki analizy propagacji niepewności w algorytmach aproksymacyjnych, odtwarzających pośrednią i bezposrednią metodę pomiaru. Przeprowadzono symulacje wpływu błędu kwantowania przetworników A/C oraz nieokreśloności czasu próbkowania na wartość niepewności przetwarzania.
The paper presents some algorithms of impedance components evaluation in circuits with a sampling transducer. The results of uncertainty propagation by approximating algorithms reconstructing direct and indirect measurement methods are described. Simulations of the influence of quantization error of the AD converter and jitters of sampling time on the uncertainty processing results have been carried out.
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
9-18
Opis fizyczny
Bibliogr. 15 poz.
Twórcy
autor
- Samodzielny Zakład Elektrotechniki Teoretycznej i Metrologii Politechniki Świętokrzyskiej
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSL4-0008-0072