Elektronowy mikroskop skaningowy w badaniach struktury stopów odlewniczych

• Autorzy: Gajewski, M. , Kasińska, J.

Warianty tytułu

EN

Skanning electrone microscopy in investigations of cast steels structures

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W referacie przedstawiono wykorzystanie efektów emisji elektronów pierwotnych rozproszonych wstecznie do ujawniania struktury i identyfikacji faz poprzez wytwarzanie kontrastu kompozycyjnego i analizę składu chemicznego w elektronowym mikroskopie skaningowym współpracującym z mikroanalizatorem rentgenowskim EDS. Przestawiono zalety tej metody badawczej na przykładach badania: struktury wtrąceń niemetalicznych, struktury staliwa austenityczno - ferrytycznego Cr-Ni + Mo stabilizowanego niobem oraz struktury brązu B101.

EN

This paper submits useing effect of backscattered electrons emission for structure elicit and phases identifications through compounds contrast making and chemical analysis. The investigations were made by means of scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-Ray microanalysis (EDS). The advantages of this method are also described.

Słowa kluczowe

PL

elektrony pierwotne; rozpraszanie wsteczne; mikroskop skaningowy; struktura stopów odlewniczych; staliwo

EN

primary electrons; backscattering; scanning electron microscopy; energy electron spectroscopy; cast steels

• Czasopismo: Archiwum Odlewnictwa
• Rocznik: 2006
• Tom: R. 6, nr 21/1
• Strony: 453-462
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Gajewski, M.

autor

Kasińska, J.

• Politechnika Świętokrzyska w Kielcach,

Bibliografia

• [1] L. Klimek, B. Pietrzyk: Electron backscatter diffraction as a useful method for alloys microstructure characterization. Journal of Alloys and Compounds, vol. 382, s.17 - 23, 2004.
• [2] E. H. Darlington: Backscattering of 10 - 100keV electrons from thick targets. J. Phys. D., vol.8, s.85 - 93, 1975.
• [3] H. Dresher, L. Reimer, H. Seidek: Rückstreukoeffizient und Secunderelektronenausbeuthe von 10 - 100 keV Elektronen und Beziehungen zur Rasterelektronenmikroskopie. Z. Angew. Phys., vol.29, s. 331 - 336, 1970.
• [4] A. Szummer i in.: Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej, WNT, Warszawa, 1994.